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1. (WO2019022069) 近赤外線カットフィルターおよび該近赤外線カットフィルターを用いた装置
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国際公開番号: WO/2019/022069 国際出願番号: PCT/JP2018/027693
国際公開日: 31.01.2019 国際出願日: 24.07.2018
IPC:
G02B 5/22 (2006.01) ,B32B 7/02 (2006.01) ,B32B 27/18 (2006.01) ,G02B 1/115 (2015.01) ,G02B 5/26 (2006.01) ,G02B 5/28 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
20
フィルター
22
吸収フィルター
B 処理操作;運輸
32
積層体
B
積層体,すなわち平らなまたは平らでない形状,例.細胞状またはハニカム状,の層から組立てられた製品
7
層間の関係を特徴とする積層体,すなわち本質的に異なる物理的性質を有する層または層の相互連続を特徴とする積層体
02
物理的性質,例.堅さ,に関するもの
B 処理操作;運輸
32
積層体
B
積層体,すなわち平らなまたは平らでない形状,例.細胞状またはハニカム状,の層から組立てられた製品
27
本質的に合成樹脂からなる積層体
18
特別な添加剤の使用を特徴とするもの
[IPC code unknown for G02B 1/115]
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
20
フィルター
26
反射フィルター
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
20
フィルター
28
干渉フィルター
出願人:
JSR株式会社 JSR CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区東新橋一丁目9番2号 9-2, Higashi-Shinbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058640, JP
発明者:
重岡 大介 SHIGEOKA Daisuke; JP
長屋 勝也 NAGAYA Katsuya; JP
大月 敏敬 OTSUKI Toshihiro; JP
代理人:
特許業務法人SSINPAT SSINPAT PATENT FIRM; 東京都品川区西五反田七丁目13番6号 五反田山崎ビル6階 Gotanda Yamazaki Bldg. 6F, 13-6, Nishigotanda 7-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1410031, JP
優先権情報:
2017-14536927.07.2017JP
発明の名称: (EN) NEAR-INFRARED CUT FILTER AND DEVICE USING NEAR-INFRARED CUT FILTER
(FR) FILTRE DE COUPURE DANS LE PROCHE INFRAROUGE ET DISPOSITIF METTANT EN ŒUVRE LE FILTRE DE COUPURE DANS LE PROCHE INFRAROUGE
(JA) 近赤外線カットフィルターおよび該近赤外線カットフィルターを用いた装置
要約:
(EN) The present invention addresses the problem of providing a near-infrared cut filter that has excellent near-infrared cut characteristics, has less dependence on an incident angle, and has excellent transmittance characteristics in a visible wavelength range and excellent effect of reducing multiply reflected light in a near-infrared wavelength region. The near-infrared cut filter according to the present invention comprises: a base having a transparent resin layer containing a near-infrared absorbent; and a dielectric multilayer film formed on at least one surface of the base, and satisfies the following requirement (a): (a) an absolute value |Xa - Xb| of a difference between a value (Xa) and a value (Xb) is 120 nm or more, the value (Xa) being a value of the shortest wavelength at which transmittance measured from a direction perpendicular to the base is 50% in a wavelength region of 600-800 nm, and the value (Xb) being a value of the longest wavelength at which transmittance measured from the direction perpendicular to the base is 50% in a wavelength region of 700-1200 nm.
(FR) La présente invention aborde le problème de la fourniture d'un filtre de coupure dans le proche infrarouge qui présente d'excellentes caractéristiques de coupure dans le proche infrarouge, est moins dépendant vis-à-vis d'un angle incident, et présente d'excellentes caractéristiques de transmittance dans une plage de longueurs d'onde visibles et un excellent effet de réduction de la lumière réfléchie de multiplication dans une zone de longueur d'onde du proche infrarouge. Le filtre de coupure dans le proche infrarouge selon la présente invention comprend : une base comprenant une couche de résine transparente contenant un absorbant dans le proche infrarouge ; et un film multicouche diélectrique formé sur au moins une surface de la base, et satisfait l'exigence suivante (a) : (a) une valeur absolue |Xa - Xb| d'une différence entre une valeur (Xa) et une valeur (Xb) est égale ou supérieure 120 nm, la valeur (Xa) étant une valeur de la longueur d'onde la plus courte à laquelle la transmittance mesurée à partir d'une direction perpendiculaire à la base est de 50 % dans une zone de longueur d'onde comprise entre 600 et 800 nm, et la valeur (Xb) étant une valeur de la longueur d'onde la plus longue à laquelle la transmittance mesurée dans la direction perpendiculaire à la base est de 50 % dans une zone de longueur d'onde comprise entre 700 et 1 200 nm.
(JA) 本発明の課題は、近赤外線カット特性に優れ、入射角依存性が少なく、可視波長域での透過率特性および近赤外波長領域の多重反射光の低減効果に優れた近赤外線カットフィルターを提供することにある。本発明の近赤外線カットフィルターは、近赤外線吸収剤を含む透明樹脂層を有する基材と、前記基材の少なくとも一方の面に形成された誘電体多層膜とを含み、かつ、下記要件(a)を満たす:(a)波長600~800nmの領域において、前記基材の垂直方向から測定した場合の透過率が50%となる最も短い波長の値(Xa)と、波長700~1200nmの領域において、基材の垂直方向から測定した場合の透過率が50%となる最も長い波長の値(Xb)との差の絶対値|Xa-Xb|が120nm以上である。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)