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1. (WO2019021435) レーザ光のビームプロファイル測定装置
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国際公開番号: WO/2019/021435 国際出願番号: PCT/JP2017/027309
国際公開日: 31.01.2019 国際出願日: 27.07.2017
IPC:
G01J 1/02 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,H01S 3/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
02
細部
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
02
細部
04
光学部分または機械部分
H 電気
01
基本的電気素子
S
誘導放出を用いた装置
3
レーザ,すなわち誘導放出を用いた赤外線,可視光あるいは紫外線の発生,増幅,変調,復調あるいは周波数変換のための装置
出願人:
カナレ電気株式会社 CANARE ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 愛知県日進市藤枝町奥廻間1201番地10 1201-10 Okuhazama, Fujieda-cho, Nisshin-shi, Aichi 4700112, JP
発明者:
常包 正樹 TSUNEKANE, Masaki; JP
代理人:
黒田 健二 KURODA, Kenji; JP
松本 孝 MATSUMOTO, Takashi; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) LASER BEAM PROFILE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE PROFIL DE FAISCEAU LASER
(JA) レーザ光のビームプロファイル測定装置
要約:
(EN) This laser beam profile measurement device includes a plate-like or block-like fluorescence generation element having an incidence surface upon which laser light is incident and an emission surface from which the laser light is emitted, a light separation element for separating the laser light from fluorescence that has been generated in the fluorescence generation element and emitted from the emission surface, and an image element for receiving the fluorescence. The fluorescence generation element includes a first film formed on the incidence surface. The wavelength-to-reflectance characteristic of the first film is such that the first film transmits the wavelength λ1 of the laser light and reflects the wavelength λ2 of the fluorescence. The light separation element preferably includes a second film having a wavelength-to-reflectance characteristic such that the second film transmits wavelength λ2 and reflects wavelength λ1 or a third film having a wavelength-to-reflectance characteristic such that the third film reflects wavelength λ2 and transmits wavelength λ1. It is preferable for the first film to have a wavelength-to-reflectance characteristic such that the first film additionally reflects a wavelength λ0 between wavelength λ1 and wavelength λ2 and for the second film to have a wavelength-to-reflectance characteristic such that the second film additionally reflects wavelength λ0; alternatively, it is preferable for the first film to have a wavelength-to-reflectance characteristic such that the first film additionally reflects a wavelength λ0 between wavelength λ1 and wavelength λ2 and for the third film to have a wavelength-to-reflectance characteristic such that the third film additionally transmits wavelength λ0.
(FR) Ce dispositif de mesure de profil de faisceau laser comprend un élément de génération de fluorescence en forme de plaque ou de bloc ayant une surface d'incidence sur laquelle est incidente une lumière laser et une surface d'émission à partir de laquelle est émise la lumière laser, un élément de séparation de lumière permettant de séparer la lumière laser de la fluorescence qui a été générée dans l'élément de génération de fluorescence et émise à partir de la surface d'émission, et un élément d'image permettant de recevoir la fluorescence. L'élément de génération de fluorescence comprend un premier film formé sur la surface d'incidence. La caractéristique de longueur d'onde à réflectance du premier film est telle que le premier film transmet la longueur d'onde λ1 de la lumière laser et réfléchit la longueur d'onde λ2 de la fluorescence. L'élément de séparation de lumière comprend de préférence un deuxième film ayant une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le deuxième film transmet la longueur d'onde λ2 et réfléchit la longueur d'onde λ1 ou un troisième film ayant une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le troisième film réfléchit la longueur d'onde λ2 et transmet la longueur d'onde λ1. Le premier film a de préférence une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le premier film réfléchit en outre une longueur d'onde λ0 entre la longueur d'onde λ1 et la longueur d'onde λ2 et le deuxième film a de préférence une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le deuxième film réfléchit en outre la longueur d'onde λ0 ; en variante, le premier film a de préférence une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le premier film réfléchit en outre une longueur d'onde λ0 entre la longueur d'onde λ1 et la longueur d'onde λ2 et le troisième film a de préférence une caractéristique de longueur d'onde à réflectance telle que le troisième film transmet en outre la longueur d'onde λ0.
(JA) レーザ光のビームプロファイル測定装置は、レーザ光が入射する入射面とレーザ光が出射する出射面とを有する、板状またはブロック状の蛍光発生素子と、当該素子内で発生し出射面から出射する蛍光をレーザ光から分離する光分離素子と、蛍光を受けるイメージ素子とを含む。蛍光発生素子は、その入射面に形成された第1の膜を含む。第1の膜は、レーザ光の波長λ1を透過し蛍光の波長λ2を反射する反射率の波長特性を持つ。光分離素子は、波長λ2を透過し波長λ1を反射する反射率の波長特性を持つ第2の膜、または波長λ2を反射し波長λ1を透過する反射率の波長特性を持つ第3の膜を含むと良い。第1の膜はさらに波長λ1及び波長λ2の間のある波長λ0を反射する反射率の波長特性を持ち、第2の膜はさらに波長λ0を反射する反射率の波長特性を持つと良い。代替的に、第1の膜はさらに波長λ1及び波長λ2の間のある波長λ0を反射する反射率の波長特性を持ち、第3の膜はさらに波長λ0を透過する反射率の波長特性を持つと良い。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)