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1. (WO2019012776) 試料観察装置及び試料観察方法
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国際公開番号: WO/2019/012776 国際出願番号: PCT/JP2018/015972
国際公開日: 17.01.2019 国際出願日: 18.04.2018
IPC:
G01N 21/64 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP
発明者:
杉山 範和 SUGIYAMA Norikazu; JP
松原 正典 MATSUBARA Masanori; JP
山本 諭 YAMAMOTO Satoshi; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
優先権情報:
2017-13542311.07.2017JP
発明の名称: (EN) SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
(FR) DISPOSITIF D’OBSERVATION D’ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION D’ÉCHANTILLON
(JA) 試料観察装置及び試料観察方法
要約:
(EN) This sample observation device 1 comprises: an irradiation unit 11 that emits planar light L2 toward a sample S; a scanning unit 12 that scans the sample S in one direction with respect to an irradiation plane R of the planar light L2; an image forming unit 17 that respectively forms images of fluorescence J1 and scattered light J2 from the sample S; an image capturing unit 13 that outputs first image data G1 based on an optical image of the fluorescence J1 and second image data G2 based on an optical image of the scattered light J2; an image processing unit 32 that generates a fluorescent image F1 on the basis of a plurality of pieces of the first image data G1, and that generates a scattered light image F2 on the basis of a plurality of pieces of the second image data G2; and an analysis unit 33 that, on the basis of the scattered light image F2, specifies a region N4 in the fluorescent image F1 where the sample S is present, and that sets an analysis region N5 in the fluorescent image F1 on the basis of the region N4 where the sample S is present.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’observation d’échantillon 1 qui comprend : une unité d’irradiation 11 qui émet une lumière plane L2 vers un échantillon S ; une unité de balayage 12 qui balaye l’échantillon S dans une direction par rapport à un plan d’irradiation R de la lumière plane L2 ; une unité de formation d’image 17 qui forme respectivement des images de fluorescence J1 et de lumière diffusée J2 de l’échantillon S ; une unité de capture d’image 13 qui délivre en sortie des premières données d’image G1 sur la base d’une image optique de la fluorescence J1 et des deuxièmes données d’image G2 sur la base d’une image optique de la lumière diffusée J2 ; une unité de traitement d’image 32 qui génère une image fluorescente F1 sur la base d’une pluralité d’éléments des premières données d’image G1, et qui génère une image de lumière diffusée F2 sur la base d’une pluralité d’éléments des deuxièmes données d’image G2 ; et une unité d’analyse 33 qui, sur la base de l’image de lumière diffusée F2, spécifie une région N4 dans l’image fluorescente F1 où l’échantillon S est présent, et qui définit une région d’analyse N5 dans l’image fluorescente F1 sur la base de la région N4 où l’échantillon S est présent.
(JA) 試料観察装置1は、試料Sに向けて面状光L2を照射する照射部11と、面状光L2の照射面Rに対して試料Sを一方向に走査する走査部12と、試料Sからの蛍光J1及び散乱光J2をそれぞれ結像する結像部17と、蛍光J1の光像に基づく第1の画像データG1及び散乱光J2の光像に基づく第2の画像データG2を出力する撮像部13と、複数の第1の画像データG1に基づいて蛍光画像F1を生成し、複数の第2の画像データG2に基づいて散乱光画像F2を生成する画像処理部32と、散乱光画像F2に基づいて蛍光画像F1における試料Sの存在領域N4を特定し、試料Sの存在領域N4に基づいて蛍光画像F1における解析領域N5を設定する解析部33と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)