このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2019012589) 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2019/012589 国際出願番号: PCT/JP2017/025171
国際公開日: 17.01.2019 国際出願日: 10.07.2017
IPC:
H01J 49/26 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01) ,H01J 49/40 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
34
動的分光器
40
飛行時間型分光器
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
山本 英樹 YAMAMOTO, Hideki; JP
遠山 敦彦 TOYAMA, Atsuhiko; JP
代理人:
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) MASS SPECTROMETRY DEVICE, MASS SPECTROMETRY METHOD, AND MASS SPECTROMETRY PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE
(JA) 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム
要約:
(EN) Provided is a device that performs MSn analysis for scanning and measuring product ions generated by selecting precursor ions using mass-windows, wherein the device comprises: a mass-window group setting information input reception unit (42) that receives input of information relating to the number of mass-window groups, the number of mass-windows, and the mass-to-charge ratio range of the mass-windows; a mass-window group setting unit (43) that sets, on the basis of the input information, a first mass-window group which comprises a plurality of mass-window combinations, and a second mass-window group which comprises a plurality of mass-window combinations and for which the mass-to-charge ratio of the boundary of adjacent mass-windows differs from the mass-to-charge ratio of the boundary of mass-windows of the first mass-window group; a product ion scanning/measuring unit (44) that performs, for the first mass-window group and the second mass-window group, respectively, an operation for acquiring product ion scan data by using the plurality of mass-windows in order to execute scanning and measurement of product ions; and a product ion spectrum generation unit (45) that generates a product ion spectrum by integrating the product ion scan data.
(FR) L'invention concerne un dispositif effectuant une analyse de spectrométrie de masse MSn pour balayer et mesurer des ions de produit générés par la sélection d'ions précurseurs au moyen de fenêtres de masse, le dispositif comprenant : une unité de réception d'entrée d'informations de réglage de groupes de fenêtres de masse (42) destinée à recevoir une entrée d'informations relatives au nombre de groupes de fenêtres de masse, au nombre de fenêtres de masse et à la plage de rapports masse sur charge des fenêtres de masse ; une unité de réglage de groupes de fenêtres de masse (43) destinée à définir, en fonction des informations d'entrée, un premier groupe de fenêtres de masse comprenant une pluralité de combinaisons de fenêtres de masse, et un deuxième groupe de fenêtres de masse comprenant une pluralité de combinaisons de fenêtres de masse et pour lequel le rapport masse sur charge de la limite de fenêtres de masse adjacentes diffère du rapport masse sur charge de la limite de fenêtres de masse du premier groupe de fenêtres de masse ; une unité de balayage/mesure d'ions de produit (44) destinée à effectuer, pour le premier groupe de fenêtres de masse et le deuxième groupe de fenêtres de masse, respectivement, une opération pour acquérir des données de balayage d'ions de produit au moyen de la pluralité de fenêtres de masse afin d'exécuter un balayage et une mesure d'ions de produit ; et une unité de génération de spectre d'ions de produit (45) destinée à générer un spectre d'ions de produit par intégration des données de balayage d'ions de produit.
(JA) 質量窓を用いてプリカーサイオンを選択して生成したプロダクトイオンをスキャン測定するMSn 分析を行う装置において、質量窓群の数、質量窓の数、及び該質量窓の質量電荷比の幅に関する情報の入力を受け付ける質量窓群設定情報入力受付部(42)と、入力された情報に基づいて複数の質量窓の組からなる第1質量窓群と複数の質量窓の組からなり隣接する質量窓の境界の質量電荷比が前記第1質量窓群の質量窓の境界の質量電荷比とは異なる第2質量窓群を設定する質量窓群設定部(43)と、複数の質量窓を順に用いてプロダクトイオンスキャン測定を実行してプロダクトイオンスキャンデータを取得する動作を、前記第1質量窓群と前記第2質量窓群のそれぞれについて行うプロダクトイオンスキャン測定部(44)と、前記プロダクトイオンスキャンデータを統合してプロダクトイオンスペクトルを生成するプロダクトイオンスペクトル生成部(45)とを備える。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)