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1. (WO2019008964) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
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国際公開番号: WO/2019/008964 国際出願番号: PCT/JP2018/021192
国際公開日: 10.01.2019 国際出願日: 01.06.2018
IPC:
G01J 3/45 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
45
干渉分光測定
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
31
特定の元素または分子を特徴づける波長における材料の相対的効果の調査,例.原子吸光分光
35
赤外光を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
9
このサブグループに記述され,かつ光学的測定手段の使用によって特徴づけられた計器
02
干渉計
出願人:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関1丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
発明者:
古川 祐光 FURUKAWA, Hiromitsu; JP
代理人:
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
優先権情報:
2017-13041003.07.2017JP
発明の名称: (EN) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
(JA) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
要約:
(EN) Provided are an interferometer, a Fourier transform spectroscopic device and a component analyzing device which are highly resistant to vibration, are inexpensive and compact, and have a high resolution. An interferometer 10 is provided with: a first polarizing element 13 which allows certain polarized light among incident light to pass; a birefringent crystal 14 which is arranged downstream of the first polarizing element 13 and is arranged rotatably about an axis of rotation in the incident direction of light emitted from the first polarizing element 13; a second polarizing element 15 which is arranged downstream of the birefringent crystal 14 and which allows certain polarized light among the light emitted from the birefringent crystal 14 to pass; and a light receiving element 17 which is arranged downstream of the second polarizing element 15 and which converts the light emitted from the second polarizing element 15 into an electrical signal; wherein the first polarizing element 13, the birefringent crystal 14, the second polarizing element 15 and the light receiving element 17 are arranged in a straight line.
(FR) L'invention concerne un interféromètre, un dispositif spectroscopique à transformée de Fourier et un dispositif d'analyse de composant qui sont hautement résistants aux vibrations, qui sont peu coûteux et compacts, et qui ont une résolution élevée. Un interféromètre (10) est pourvu : d'un premier élément de polarisation (13), qui permet à une certaine lumière polarisée au sein d'une lumière incidente de passer ; un cristal biréfringent (14), qui est disposé en aval du premier élément de polarisation (13) et qui est agencé de façon à pouvoir tourner autour d'un axe de rotation dans le sens d'incidence de la lumière émise par le premier élément de polarisation (13) ; un second élément polarisant (15), qui est disposé en aval du cristal biréfringent (14) et qui permet à une certaine lumière polarisée au sein de la lumière émise par le cristal biréfringent (14) de passer ; et un élément de réception de lumière (17), qui est disposé en aval du second élément de polarisation (15) et qui convertit la lumière émise par le second élément de polarisation (15) en un signal électrique ; le premier élément de polarisation (13), le cristal biréfringent (14), le second élément de polarisation (15) et l'élément de réception de lumière (17) étant disposés en ligne droite.
(JA) 耐振性が高く、安価で小型であり、分解能が高い干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置を提供する。干渉計10は、入射された光のうち所定の偏光を通過させる第1偏光素子13と、第1偏光素子13の後段に配置され、第1偏光素子13から出射された光の入射方向を回転軸として回転可能に配置された複屈折結晶14と、複屈折結晶14の後段に配置され、複屈折結晶14から出射された光のうち所定の偏光を通過させる第2偏光素子15と、第2偏光素子15の後段に配置され、第2偏光素子15から出射された光を電気信号に変換する受光素子17と、を備え、第1偏光素子13、複屈折結晶14、第2偏光素子15及び受光素子17は、直線的に配置される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)