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1. (WO2019004108) 反射光測定装置
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国際公開番号: WO/2019/004108 国際出願番号: PCT/JP2018/023958
国際公開日: 03.01.2019 国際出願日: 25.06.2018
IPC:
G01M 11/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
11
光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験
出願人:
株式会社オプトゲート OPT GATE CO., LTD. [JP/JP]; 東京都葛飾区高砂8丁目27番20号 8-27-20, Takasago, Katsushika-ku, Tokyo 1250054, JP
発明者:
田中 雅之 TANAKA Masayuki; JP
代理人:
日比谷 征彦 HIBIYA Yukihiko; JP
日比谷 洋平 HIBIYA Yohei; JP
優先権情報:
2017-12648528.06.2017JP
発明の名称: (EN) REFLECTED LIGHT MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LUMIÈRE RÉFLÉCHIE
(JA) 反射光測定装置
要約:
(EN) Provided is a reflected light measuring device capable of identifying the position of a defect location occurring in an optical connector and of quantifying reflected light generated by the defect. The reflected light measuring device 1 consists of: a laser light source 2; a beam splitter 3 which splits measuring laser light L; a reference mirror 4 capable of adjusting an optical path length; and an optical measuring instrument 5 which receives the measuring laser light reflected at a defect location in a connector being measured, and reference laser light reflected by the reference mirror 4. An optical attenuator G, a connector C' to be measured for calibration and the reflecting mirror M are connected to the reflected light measuring device 1, a virtual line is created using a voltage value obtained when a standard set amount of reflected light is received by the optical measuring instrument 5. The virtual line is stored in an arithmetic control unit, and an attenuation rate of the amount of reflected light on the virtual line P relative to the output voltage obtained by the optical measuring instrument 5 of the reflected light measuring device 1, in other words a reflection level, can be output.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de lumière réfléchie pouvant identifier la position d'un emplacement de défaut apparaissant dans un connecteur optique et quantifier la lumière réfléchie générée par le défaut. Le dispositif de mesure de lumière réfléchie (1) comprend : une source de lumière laser (2); un diviseur de faisceau (3) qui divise la lumière laser de mesure L; un miroir de référence (4) pouvant ajuster une longueur de trajet optique; et un instrument de mesure optique (5) qui reçoit la lumière laser de mesure réfléchie à un emplacement de défaut dans un connecteur qui est mesuré, et une lumière laser de référence réfléchie par le miroir de référence (4). Un atténuateur optique G, un connecteur C' à mesurer en vue d'un étalonnage et le miroir réfléchissant M sont connectés au dispositif de mesure de lumière réfléchie (1), une ligne virtuelle est créée à l'aide d'une valeur de tension obtenue lorsqu'une quantité standard établie de lumière réfléchie est reçue par l'instrument de mesure optique (5). La ligne virtuelle est stockée dans une unité de commande arithmétique, et un taux d'atténuation de la quantité de lumière réfléchie sur la ligne virtuelle P, par rapport à la tension de sortie obtenue par l'instrument de mesure optique (5) du dispositif de mesure de lumière réfléchie (1), autrement dit une intensité de réflexion, peut être délivré en sortie.
(JA) 光コネクタ内の不良個所の発生位置を特定すると共に、不良で発生する反射光の数値化を行うことができる反射光測定装置を提供する。 反射光測定装置1は、レーザー光源2と、この測定レーザー光Lを分岐するビームスプリッタ3と、光路長を調整可能な参照ミラー4と、被測定コネクタ内の不良個所において反射した測定レーザー光及び参照ミラー4で反射した参照レーザー光を受光する光測定器5とから構成されている。光減衰器G、校正用被測定コネクタC'及び反射ミラーMを、反射光測定装置1に接続して、基準設定された反射光量を、光測定器5で受光した時に得られた電圧値を用いて仮想線を作成する。この仮想線を演算制御部に記憶し、反射光測定装置1の光測定器5で得られた出力電圧に対して、仮想線P上の反射光量の減衰率、つまり反射レベルを出力することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)