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1. (WO2019002478) DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PARTICLES
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国際公開番号: WO/2019/002478 国際出願番号: PCT/EP2018/067437
国際公開日: 03.01.2019 国際出願日: 28.06.2018
IPC:
G01N 21/47 (2006.01) ,G01N 15/06 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
47
散乱,すなわち拡散反射
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
06
懸濁質の濃度の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München, DE
発明者:
WILLSCH, Michael; DE
RICHTER, Markus; DE
優先権情報:
17178655.129.06.2017EP
発明の名称: (EN) DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PARTICLES
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PARTICULES
(DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR DETEKTION VON PARTIKELN
要約:
(EN) The invention relates to a device (10) and a method for detecting particles (20), comprising at least one light source (12) and at least one detector (14) for detecting light. At least one medium (16) can be transilluminated by light provided by the light source (12) and has a deposition surface (18) for the particles (20). The detector (14) is designed to detect light penetrating the medium (16) and reflected by the particles (20) deposited on the deposition surface (18).
(FR) L'invention concerne un dispositif (10) ainsi qu'un procédé de détection de particules (20), le dispositif comprenant au moins une source de lumière (12) et au moins un détecteur (14) servant à détecter la lumière, au moins un milieu (16) pouvant être traversé par la lumière émise par la source de lumière (12) et présentant une surface de dépôt (18) pour les particules (20), le détecteur (14) étant conçu pour détecter la lumière qui est réfléchie par les particules (20) déposées sur la surface de dépôt (18) et qui traverse le milieu (16).
(DE) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (10) sowie ein Ver- fahren zur Detektion von Partikeln (20), mit wenigstens einer Lichtquelle (12), und mit wenigstens einem Detektor (14) zum Erfassen von Licht, wobei wenigstens ein Medium (16) von von der Lichtquelle (12) bereitgestelltem Licht durchleuchtbar ist, welches eine Ablagerungsoberfläche (18) für die Partikel (20) aufweist, wobei der Detektor (14) dazu ausgebildet ist, von den auf der Ablagerungsoberfläche (18) abgelagerten Par- tikeln (20) reflektiertes und das Medium (16) durchdringendes Licht zu erfassen.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: ドイツ語 (DE)
国際出願言語: ドイツ語 (DE)