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1. (WO2019001821) MICROSCOPE AND METHOD FOR MICROSCOPY OF A SPECIMEN UNDER A VARIABLE MECHANICAL PARAMETER
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国際公開番号: WO/2019/001821 国際出願番号: PCT/EP2018/062184
国際公開日: 03.01.2019 国際出願日: 11.05.2018
IPC:
G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
24
架台構造
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
24
架台構造
26
載物台;その調節装置
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
36
写真撮影用または投影用に構成されたもの
出願人:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
発明者:
GAIDUK, Alexander; DE
HEIN, Detlef; DE
ILIOPOULOS, Pavlos; DE
代理人:
ENGEL, Christoph K.; DE
RITTERMANN, Marco; DE
優先権情報:
10 2017 114 562.129.06.2017DE
発明の名称: (EN) MICROSCOPE AND METHOD FOR MICROSCOPY OF A SPECIMEN UNDER A VARIABLE MECHANICAL PARAMETER
(FR) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'UN ÉCHANTILLON AU MICROSCOPE EN UTILISANT UN PARAMÈTRE MÉCANIQUE MODIFIABLE
(DE) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM MIKROSKOPIEREN EINER PROBE UNTER EINEM VERÄNDERBAREN MECHANISCHEN PARAMETER
要約:
(EN) The invention relates to a microscope and to a method for microscopy of a specimen, wherein in the microscope a mechanical parameter (θ) can be varied. In one step of the method, a first value (θtarget) of the mechanical parameter (θ) to be adjusted is selected. An electrically controllable actuating element (04) is activated in order to adjust the first value (θtarget) of the mechanical parameter (θ) to be adjusted. A first microscopic image of the specimen is recorded under the adjusted first value (θtarget) of the mechanical parameter (θ). In a further step, a second value (θtarget) of the mechanical parameter (θ) to be adjusted is selected. The electrically controllable actuating element (04) is activated in order to adjust the second value (θtarget) of the mechanical parameter (θ) to be adjusted. A second microscopic image of the specimen is recorded under the adjusted second value (θtarget) of the mechanical parameter (θ).
(FR) La présente invention concerne un microscope et un procédé d'observation d'un échantillon au microscope, un paramètre mécanique (θ) du microscope pouvant être modifié. Au cours d'une étape du procédé, une première valeur à régler (θZiel) du paramètre mécanique (θ) est sélectionnée. Un élément d'actionnement pouvant être commandé électriquement (04) est commandé de manière à régler la première valeur à régler (θZiel) du paramètre mécanique (θ). Une première image microscopique de l'échantillon est acquise en utilisant la première valeur réglée (θZiel) du paramètre mécanique (θ). Au cours d'une autre étape, une seconde valeur à régler (θZiel) du paramètre mécanique (θ) est sélectionnée. L'élément d'actionnement pouvant être commandé électriquement (04) est commandé de manière à régler la seconde valeur à régler (θZiel) du paramètre mécanique (θ). Une seconde image microscopique de l'échantillon est acquise en utilisant la seconde valeur réglée (θZiel) du paramètre mécanique (θ).
(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop und ein Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe, wobei bei dem Mikroskop ein mechanischer Parameter (θ) veränderbar ist. In einem Schritt des Verfahrens erfolgt ein Auswählen eines ersten einzustellenden Wertes (θZiel) des mechanischen Parameters (θ). Ein elektrisch steuerbares Betätigungselement (04) wird angesteuert, um den ersten einzustellenden Wert (θZiel) des mechanischen Parameters (θ) einzustellen. Ein erstes mikroskopisches Bild der Probe wird unter dem eingestellten ersten Wert (θZiel) des mechanischen Parameters (θ) aufgenommen. In einem weiteren Schritt erfolgt ein Auswählen eines zweiten einzustellenden Wertes (θZiel) des mechanischen Parameters (θ). Das elektrisch steuerbare Betätigungselement (04) wird angesteuert, um den zweiten einzustellenden Wert (θZiel) des mechanischen Parameters (θ) einzustellen. Ein zweites mikroskopisches Bild der Probe wird unter dem eingestellten zweiten Wert (θZiel) des mechanischen Parameters (θ) aufgenommen.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: ドイツ語 (DE)
国際出願言語: ドイツ語 (DE)