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1. (WO2019001098) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
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国際公開番号: WO/2019/001098 国際出願番号: PCT/CN2018/083352
国際公開日: 03.01.2019 国際出願日: 17.04.2018
IPC:
G01N 21/892 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89
動いている材料,例.紙・織物,の中の
892
調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
出願人:
MIDEA GROUP CO., LTD. [CN/CN]; B26-28F, Midea Headquarter Building, No. 6 Midea Avenue, Beijiao, Shunde Foshan, Guangdong 528311, CN
発明者:
WANG, Dongyan; US
GU, Haisong; US
代理人:
CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B, No. 21 Haidian South Road Haidian District Beijing 100080, CN
優先権情報:
15/633,44326.06.2017US
発明の名称: (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'INSPECTION DE QUALITÉ AMÉLIORÉE
要約:
(EN) A method of identifying product defects on a production line includes receiving data from a plurality of edge devices monitoring a product on a production line for product defects. The data includes unique perspectives of the product captured by the edge devices. The method further includes generating an overall view of the product by merging each unique perspective of the product captured by respective edge devices of the plurality, and comparing the overall view with characteristic (s) of the product. Based on the comparing, the method further includes determining whether a degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies one or more criteria, and upon determining that the degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies at least one criterion of the one or more criteria, recording and reporting a defect associated with the product according to the difference between the view and the characteristic (s).
(FR) La présente invention concerne un procédé d'identification des défauts d'un produit sur une ligne de production, le procédé comprenant la réception de données provenant d'une pluralité de dispositifs périphériques surveillant un produit sur une ligne de production pour des défauts de produit. Les données comprennent des perspectives uniques du produit capturées par les dispositifs périphériques. Le procédé comprend en outre la génération d'une vue globale du produit par la fusion de chaque perspective unique du produit capturées par des dispositifs périphériques respectifs de la pluralité, et la comparaison de la vue globale avec une ou plusieurs caractéristiques du produit. Sur la base de la comparaison, le procédé consiste en outre à déterminer si un degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait un ou plusieurs critères et, quand il est déterminé que le degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait au moins un critère parmi le ou les critères, à enregistrer et à signaler un défaut associé au produit en fonction de la différence entre la vue et la ou les caractéristiques.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)