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1. (WO2018235233) コンタクトプローブ検査装置、及び、コンタクトプローブ検査装置の制御方法
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国際公開番号: WO/2018/235233 国際出願番号: PCT/JP2017/023054
国際公開日: 27.12.2018 国際出願日: 22.06.2017
予備審査請求日: 23.03.2018
IPC:
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 1/067 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
073
複合探針
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
出願人:
新電元工業株式会社 SHINDENGEN ELECTRIC MANUFACTURING CO., LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区大手町二丁目2番1号 2-1, Ohtemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000004, JP
発明者:
山崎 康司 YAMAZAKI Yasushi; JP
安西 稔 ANZAI Minoru; JP
喜多 俊丈 KITA Toshitake; JP
代理人:
永井 浩之 NAGAI Hiroshi; JP
中村 行孝 NAKAMURA Yukitaka; JP
佐藤 泰和 SATO Yasukazu; JP
朝倉 悟 ASAKURA Satoru; JP
出口 智也 DEGUCHI Tomoya; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) CONTACT PROBE INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CONTACT PROBE INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE SONDE DE CONTACT ET PROCÉDÉ DE COMMANDE D'UN DISPOSITIF D'INSPECTION DE SONDE DE CONTACT
(JA) コンタクトプローブ検査装置、及び、コンタクトプローブ検査装置の制御方法
要約:
(EN) A contact probe inspection device that comprises: support parts (H1, H2) that support a pin board jig (PB1) that has a contact probe (P) arranged thereon; a load cell (LS) that, while in contact with the contact probe (P), applies a load so as to make an extensible/contractible structure contract to a preset measurement position and measures the load being applied at the measurement position; drive parts (A1, A2) that displace the load cell (LS) or the support parts (H1, H2) in order to change the position of the load cell (LS) relative to the contact probe (P); and a control unit (PLC) that controls the load cell (LS) and the drive parts (A1, A2) in order to measure the load applied to the expansible/contractible structure of the contact probe (P) at the measurement position.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection de sonde de contact qui comprend : des parties de support (H1, H2) qui supportent un gabarit de tableau de connexions (PB1) sur lequel est située une sonde de contact (P) ; une cellule de charge (LS) qui, tout en étant en contact avec la sonde de contact (P), applique une charge de manière à amener une structure extensible/rétractable à se contracter jusqu'à une position de mesure prédéfinie et mesure la charge appliquée au niveau de la position de mesure ; des parties d'entraînement (A1, A2) qui déplacent la cellule de charge (LS) ou les parties de support (H1, H2) afin de modifier la position de la cellule de charge (LS) par rapport à la sonde de contact (P) ; et une unité de commande (PLC) qui commande la cellule de charge (LS) et les parties d'entraînement (A1, A2) afin de mesurer la charge appliquée à la structure extensible/rétractable de la sonde de contact (P) au niveau de la position de mesure.
(JA) コンタクトプローブ検査装置は、コンタクトプローブ(P)が配置されたピンボード治具(PB1)を、支持する支持部(H1、H2)と、コンタクトプローブ(P)に接触した状態で、伸縮構造が予め設定された測定位置まで縮むように荷重を印加し、測定位置で印加している荷重を測定するロードセル(LS)と、コンタクトプローブ(P)に対するロードセル(LS)の相対的な位置を変化させるために、ロードセル(LS)の位置又は支持部(H1、H2)の位置を変位させる駆動部(A1、A2)と、測定位置でコンタクトプローブ(P)の伸縮構造に印加した荷重を測定するために、ロードセル(LS)及び駆動部(A1、A2)を制御する制御部(PLC)と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)