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1. (WO2018225799) 分光測定方法、分光測定装置及び広帯域パルス光源ユニット
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国際公開番号: WO/2018/225799 国際出願番号: PCT/JP2018/021762
国際公開日: 13.12.2018 国際出願日: 06.06.2018
IPC:
G01J 3/45 (2006.01) ,G01J 3/433 (2006.01) ,G01N 21/31 (2006.01) ,G02F 1/365 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
45
干渉分光測定
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
42
吸収分光測定;二光束分光測定;フリッカー分光測定;反射分光測定
433
変調分光測定;微分分光測定
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
31
特定の元素または分子を特徴づける波長における材料の相対的効果の調査,例.原子吸光分光
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
35
非線型光学
365
光導波路構造のもの
出願人:
ウシオ電機株式会社 USHIO DENKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番5号 1-6-5, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1008150, JP
発明者:
太田 彩 OTA Aya; JP
横田 利夫 YOKOTA Toshio; JP
代理人:
保立浩一 HOTATE Koichi; JP
優先権情報:
2017-11382308.06.2017JP
発明の名称: (EN) SPECTRUM MEASUREMENT METHOD, SPECTRUM MEASUREMENT DEVICE, AND BROADBAND PULSE LIGHT SOURCE UNIT
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE SPECTRE, DISPOSITIF DE MESURE DE SPECTRE ET UNITÉ DE SOURCE DE LUMIÈRE PULSÉE À LARGE BANDE
(JA) 分光測定方法、分光測定装置及び広帯域パルス光源ユニット
要約:
(EN) [Problem] To provide a novel spectrum measurement feature with which it is possible to perform measurements even when light to be measured is present for only a very short time. [Solution] Light to be measured L0 is caused to interfere with broadband pulse light L1 in which the wavelength continuously changes over time within a pulse, and an output signal of a detector 5 that has detected the resulting interference light is subjected to Fourier transformation, whereby the optical intensity for each wavelength of the light to be measured L0 is obtained. The broadband pulse light L1 is generated by making laser light L2 from a laser light source 1 into supercontinuum light L3 by a non-linear optical element 2 and subjecting the same to pulse expansion by a pulse expansion element 3.
(FR) La présente invention aborde le problème de la réalisation d'une fonctionnalité de mesure de spectre nouvelle avec laquelle il est possible d'effectuer des mesures même lorsque la lumière à mesurer est présente pendant une très courte durée. La solution selon l'invention consiste à amener la lumière à mesurer (L0) à interférer avec une lumière pulsée à large bande (L1) dans laquelle la longueur d'onde change en continu au cours du temps à l'intérieur d'une impulsion, et à soumettre un signal de sortie d'un détecteur (5) qui a détecté la lumière d'interférence résultante à une transformée de Fourier, ce qui permet d'obtenir l'intensité optique pour chaque longueur d'onde de la lumière à mesurer (L0). La lumière pulsée à large bande (L1) est générée en convertissant la lumière laser (L2) provenant d'une source de lumière laser (1) en un supercontinuum de lumière (L3) à l'aide d'un élément optique non linéaire (2) et en la soumettant à une expansion d'impulsion par un élément d'expansion d'impulsion (3).
(JA) 【課題】 被測定光が非常に短い時間しか存在していない場合でも測定を行うことができる新しい分光測定技術を提供する。 【解決手段】  パルス内で波長が時間的に連続して変化している広帯域パルス光L1に被測定光L0を干渉させ、発生した干渉光を検出した検出器5の出力信号をフーリエ変換することで被測定光L0の波長ごとの光強度を得る。レーザー光源1からのレーザー光L2は非線形光学素子2によりスーパーコンティニウム光L3とされ、それをパルス伸張素子3によりパルス伸張させて広帯域パルス光L1が生成される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)