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1. (WO2018221718) 粉末回折パターンにおける計算パラメータの最善解算出方法,優位解算出方法,及びそのプログラム
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国際公開番号: WO/2018/221718 国際出願番号: PCT/JP2018/021153
国際公開日: 06.12.2018 国際出願日: 01.06.2018
IPC:
G01N 23/207 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20
放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;放射線の反射の利用によるもの
207
検出器を用いた回折手段によるもの,例.分析用結晶または被分析結晶を中心におき1個または複数個の移動可能な検出器を周辺に配するもの
出願人:
株式会社フィゾニット PHYSONIT INC. [JP/JP]; 広島県安芸郡海田町南堀川町6番10号4F 6-10-4F, Minami-Horikawa-machi, Kaita-cho, Aki-gun, Hiroshima 7360044, JP
発明者:
坪田 雅己 TSUBOTA Masami; JP
代理人:
松本文彦 MATSUMOTO Fumihiko; JP
優先権情報:
2017-11050002.06.2017JP
発明の名称: (EN) BEST SOLUTION CALCULATION METHOD AND DOMINANT SOLUTION CALCULATION METHOD FOR CALCULATION PARAMETER IN POWDER DIFFRACTION PATTERN, AND PROGRAM THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE MEILLEURE SOLUTION ET PROCÉDÉ DE CALCUL DE SOLUTION DOMINANTE POUR UN PARAMÈTRE DE CALCUL DANS UN DIAGRAMME DE DIFFRACTION SUR POUDRE, ET PROGRAMME ASSOCIÉ
(JA) 粉末回折パターンにおける計算パラメータの最善解算出方法,優位解算出方法,及びそのプログラム
要約:
(EN) Provided is a method which is capable of calculating a calculation parameter with high accuracy from an observation diffraction pattern of a powder sample. A best solution calculation method for a calculation parameter in an observation diffraction pattern used for crystal structure analysis of a powder sample is provide with: a third convergence value calculation process (600) which calculates each of at least three convergence values; a third best solution determination process (700) which calculates adaptabilities and determines whether each of the at least three calculated convergence values is a true solution by using respective peak position shift parameters of the at least three calculated convergence values; and a first global solution calculation process (800) which calculates a global solution that is the true solution by using each of the obtained adaptabilities.
(FR) La présente invention concerne un procédé qui est capable de calculer un paramètre de calcul avec une précision élevée à partir d'un diagramme de diffraction d'observation d'un échantillon de poudre. Un procédé de calcul de meilleure solution pour un paramètre de calcul dans un motif de diffraction d'observation utilisé pour l'analyse de structure cristalline d'un échantillon de poudre comprend : un troisième processus de calcul de valeur de convergence (600) qui calcule chacune d'au moins trois valeurs de convergence; un troisième processus de détermination de meilleure solution (700) qui calcule des adaptabilités et détermine si chacune des au moins trois valeurs de convergence calculées est une solution vraie en utilisant des paramètres de décalage de position de pic respectifs des au moins trois valeurs de convergence calculées; et un premier processus de calcul de solution globale (800) qui calcule une solution globale qui est la solution vraie en utilisant chacune des adaptabilités obtenues.
(JA) 粉末試料の観測回折パターンから計算パラメータを高確度で算出できる方法を提供する。 粉末試料の結晶構造解析に用いられる観測回折パターンにおける計算パラメータの最善解算出方法であって,少なくとも三つの収束値をそれぞれ算出する第三収束値算出工程(600)と,算出された少なくとも三つの収束値のうちそれぞれピーク位置シフトパラメータを用いて適合度を算出し,真の解であるか否かを判定する第三最善解判定工程(700)と,得られた適合度のそれぞれを用いて真の解である大局解を算出する第一大局解算出工程(800)と,を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)