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1. (WO2018221220) 自動分析装置
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国際公開番号: WO/2018/221220 国際出願番号: PCT/JP2018/018905
国際公開日: 06.12.2018 国際出願日: 16.05.2018
予備審査請求日: 03.10.2018
IPC:
G01N 35/04 (2006.01) ,G01N 35/02 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
04
コンベア系の細部
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
出願人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者:
末成 元 SUENARI Tsukasa; JP
福垣 達也 FUKUGAKI Tatsuya; JP
三島 弘之 MISHIMA Hiroyuki; JP
安居 晃啓 YASUI Akihiro; JP
瀬戸丸 武 SETOMARU Takeshi; JP
代理人:
特許業務法人開知国際特許事務所 KAICHI IP; 東京都中央区日本橋室町四丁目3番16号 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022, JP
優先権情報:
2017-11036202.06.2017JP
発明の名称: (EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
要約:
(EN) The present invention realizes an automatic analysis device whereby a specimen rack can be taken out from a specimen rack tray without a separate buffer mechanism being provided, and loading of an additional specimen rack is possible even when a specimen rack remains in the specimen rack tray. A specimen rack tray installation base of a rack loader mechanism 1 and a specimen rack tray installation base of a rack unloader mechanism 2 are disposed along a carry in/out line of a rack feeder mechanism 3 in a standby disk 4 for specimen racks carried in/out of analysis devices 5, 6. A specimen rack of the specimen rack tray on a mechanism 1 is carried into the disk 4 from the carry in/out line by a specimen rack loader arm 23. The specimen rack carried out from the disk 4 is conveyed to the specimen rack tray on the mechanism 2 in the carry in/out line and moved into the rack tray by the specimen rack unloader mechanism arm 32, and when a specimen rack is to be added, the mechanism 1 moves the rack loader arm 23 to the initial position and forms a vacancy in the specimen rack tray.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'analyse automatique grâce auquel un porte-échantillon peut être retiré d'un plateau porte-échantillon sans mécanisme tampon séparé, et permettant le chargement d'un porte-échantillon supplémentaire même lorsqu'un porte-échantillon reste dans le plateau porte-échantillon. Une base d'installation de plateau porte-échantillon d'un mécanisme de chargement de plateau (1) et une base d'installation de plateau porte-échantillon d'un mécanisme de déchargement de plateau (2) sont disposées le long d'une ligne d'entrée/sortie d'un mécanisme d'alimentation de plateau (3) dans un disque de réserve (4) pour des porte-échantillon introduits dans/retirés de dispositifs d'analyse (5, 6). Un porte-échantillon du plateau porte-échantillon sur un mécanisme (1) est transporté dans le disque (4) depuis la ligne d'entrée/sortie par un bras chargeur de porte-échantillon (23). Le porte-échantillon retiré du disque (4) est transporté vers le plateau porte-échantillon sur le mécanisme (2) dans la ligne d'entrée/sortie et déplacé dans le plateau porte-échantillon par le bras de mécanisme de déchargement de porte-échantillon (32), et lorsqu'un porte-échantillon doit être ajouté, le mécanisme (1) déplace le bras chargeur de porte-échantillon (23) vers la position initiale et forme un espace dans le plateau porte-échantillon.
(JA) 別箇のバッファ機構を備えることなく検体ラックトレイから検体ラックを取り出すことが可能で、かつ、検体ラックトレイに検体ラックが残っている場合でも、追加の検体ラック投入を可能とする自動分析装置が実現される。分析装置5、6に搬入搬出する検体ラックの待機ディスク4にラックフィーダ機構3の搬入搬出ラインに沿ってラックローダ機構1の検体ラックトレイ設置ベースとラックアンローダ機構2の検体ラックトレイ設置ベースを配置する。検体ラックローダアーム23で機構1上の検体ラックトレイの検体ラックを搬入搬出ラインからディスク4に搬入する。ディスク4から搬出された検体ラックは搬入搬出ラインで機構2上の検体ラックトレイまで搬送され検体ラックアンローダ機構アーム32によりラックトレイ内に移動され機構1は検体ラックの追加時にラックローダアーム23を初期位置に移動し検体ラックトレイに空きを形成する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)