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1. (WO2018221082) 分光測色計
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国際公開番号: WO/2018/221082 国際出願番号: PCT/JP2018/016602
国際公開日: 06.12.2018 国際出願日: 24.04.2018
IPC:
G01J 3/10 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
02
細部
10
特に分光測定または比色測定に適用される光源の構成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
発明者:
川崎 貴志 KAWASAKI Takashi; JP
藤井 秀彦 FUJII Hidehiko; JP
▲鶴▼谷 克敏 TSURUTANI Katsutoshi; JP
代理人:
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; JP
有田 貴弘 ARITA Takahiro; JP
優先権情報:
2017-10917701.06.2017JP
発明の名称: (EN) SPECTROPHOTOMETER
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE
(JA) 分光測色計
要約:
(EN) The present invention allows a measurement position to be irradiated with observation light and allows the measurement position to be known easily, without providing a large space in a spectrophotometer. In this spectrophotometer, a slit is disposed at a position that is optically conjugated with the measurement position. Light from an object to be measured passes through the slit, advances in a measurement optical path, and undergoes wavelength dispersion by a wavelength dispersion element. At the time of measurement of an optical spectrum, an observation light source is retreated out of the measurement optical path. At the time of observation of the measurement position, the observation light source is inserted in the measurement optical path and emits observation light toward the slit. Alternately, light from the object to be measured passes through the slit and is diffracted by a diffraction grating. The observation light source is disposed on an optical path of the zeroth-order light. At the time of observation of the measurement position, the observation light source emits the observation light toward the diffraction grating.
(FR) La présente invention permet à une position de mesure d'être irradiée avec une lumière d'observation et permet de connaître facilement la position de mesure, sans fournir un espace important dans un spectrophotomètre. Dans le spectrophotomètre de l'invention, une fente est disposée à une position qui est optiquement conjuguée à la position de mesure. Une lumière provenant d'un objet à mesurer passe à travers la fente, avance dans un trajet optique de mesure et subit une dispersion de longueur d'onde par un élément de dispersion de longueur d'onde. Au moment de la mesure d'un spectre optique, une source de lumière d'observation est retraitée hors du trajet optique de mesure. Au moment de l'observation de la position de mesure, la source de lumière d'observation est insérée dans le trajet optique de mesure et émet une lumière d'observation vers la fente. En variante, la lumière provenant de l'objet à mesurer passe à travers la fente et est diffractée par un réseau de diffraction. La source de lumière d'observation est disposée sur un trajet optique de la lumière d'ordre zéro. Au moment de l'observation de la position de mesure, la source de lumière d'observation émet la lumière d'observation vers le réseau de diffraction.
(JA) 分光測色計の内部に大きな空間を設けることなく、被測定位置に観察光を照射できるようにし、被測定位置を容易に知ることができるようにする。分光測色計において、被測定位置と光学的に共役である位置にスリットが配置される。被測定物からの光が、スリットを通過し、測定光路を進み、波長分散素子に波長分散される。分光スペクトルの測定時に、観察光源が測定光路外に退避させられる。被測定位置の観察時に、観察光源が、測定光路内に挿入され、スリットに向けて観察光を発光する。又は、被測定物からの光が、スリットを通過し、回折格子に回折される。観察光源が0次光の光路上に配置される。被測定位置の観察時に、観察光源が回折格子に向けて観察光を発光する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)