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1. (WO2018220328) CALIBRATION OF OPTICAL DEVICES FOR ANALYSIS OF GLAZING QUALITY AND RELATED METHODS
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国際公開番号: WO/2018/220328 国際出願番号: PCT/FR2018/051250
国際公開日: 06.12.2018 国際出願日: 31.05.2018
IPC:
G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/896 (2006.01) ,G01N 21/23 (2006.01) ,G01N 21/958 (2006.01) ,C03B 35/16 (2006.01) ,G01B 11/16 (2006.01) ,G01L 1/24 (2006.01) ,G01N 21/21 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89
動いている材料,例.紙・織物,の中の
892
調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
896
透明材料の内部または表面の光学的欠陥,例.歪・表面のきず
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
21
偏光に影響をおよぼす特性
23
複屈折
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
95
調査対象物の材質や形に特徴付けられるもの
958
透明な材料の検査
C 化学;冶金
03
ガラス;鉱物またはスラグウール
B
ガラス、鉱物またはスラグウールの製造または成形;または、ガラス、鉱物またはスラグウールの製造または成形における補助プロセス
35
ガラス成形品のその製造中での輸送
14
熱い板ガラスの輸送
16
ロールコンベアによるもの
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
16
固体の変形測定用,例.光学的ひずみ計
G 物理学
01
測定;試験
L
力,応力,トルク,仕事,機械的動力,機械的効率,または流体圧力の測定
1
力または応力の測定一般
24
応力が加えられた時の物質の光学的特性の変化を測定することによるもの,例.光弾性応力分析によるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
21
偏光に影響をおよぼす特性
出願人:
SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE [FR/FR]; 18 Avenue d'Alsace 92400 COURBEVOIE, FR
発明者:
DECOURCELLE, Romain; FR
DUMOULIN, Olivier; FR
RYBARCZYK, Théo; FR
代理人:
SAINT-GOBAIN RECHERCHE; Département Propriété Industrielle - 39 Quai Lucien Lefranc 93300 AUBERVILLIERS, FR
優先権情報:
175479931.05.2017FR
発明の名称: (EN) CALIBRATION OF OPTICAL DEVICES FOR ANALYSIS OF GLAZING QUALITY AND RELATED METHODS
(FR) CALIBRATION DES DISPOSITIFS OPTIQUES POUR L'ANALYSE DE QUALITE D'UN VITRAGE ET PROCEDES ASSOCIES
要約:
(EN) The present application discloses an optical device (1000, 1001, 1002) comprising a first polariscope, a set of first photodetectors (6. 6') and an optical delay generator (3). The present application also discloses a device (2001,2002, 2003) for analysing the quality of glazing, a heating and tempering line, and production, calibration and quality analysis methods.
(FR) La présente demande divulgue un dispositif optique (1000, 1001, 1002) comprenant un premier polariscope, un ensemble de premiers photodétecteurs (6, 6') et un générateur de retards optiques (3). La présente demande divulgue également un dispositif d'analyse de la qualité (2001, 2002, 2003) d'un vitrage, une ligne de chauffage et de trempe, et des procédés de fabrication, de calibration et d'analyse de qualité.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: フランス語 (FR)
国際出願言語: フランス語 (FR)