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1. (WO2018216620) 状態分析装置、状態分析方法、およびプログラム

Pub. No.:    WO/2018/216620    International Application No.:    PCT/JP2018/019323
Publication Date: Fri Nov 30 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat May 19 01:59:59 CEST 2018
IPC: G01R 31/34
G05B 23/02
Applicants: MITSUBISHI HITACHI POWER SYSTEMS, LTD.
三菱日立パワーシステムズ株式会社
Inventors: KUMANO Shintaro
熊野 信太郎
MORISHITA Yasushi
森下 靖
SONODA Takashi
園田 隆
Title: 状態分析装置、状態分析方法、およびプログラム
Abstract:
状態量取得部は、対象装置に係るあるタイミングにおける複数の状態量の値を取得する。状態量予測部は、取得した複数の状態量の値に基づいて、複数の状態量の値が所定時間後に取り得る範囲を予測する。表示情報生成部は、複数の状態量のそれぞれを軸とした座標空間に、複数の状態量の値が取り得る範囲に応じた形状の図形である予測値図形を配置した表示情報を生成する。