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1. WO2018216495 - 検査装置及び鋳造システム

公開番号 WO/2018/216495
公開日 29.11.2018
国際出願番号 PCT/JP2018/018190
国際出願日 10.05.2018
IPC
G01N 21/84 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
G01N 21/88 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
B22C 9/00 2006.01
B処理操作;運輸
22鋳造;粉末冶金
C鋳造用鋳型造型
9鋳型または中子;それらの製造方法(特殊な造型機械の使用を伴う方法は造型機械の適切なグループを参照)
B22D 47/02 2006.01
B処理操作;運輸
22鋳造;粉末冶金
D金属の鋳造;同じ方法または装置による他の物質の鋳造
47鋳造プラント
02造型と鋳造の両方のためのもの
CPC
B22C 19/04
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
22CASTING; POWDER METALLURGY
CFOUNDRY MOULDING
19Components or accessories for moulding machines
04Controlling devices specially designed for moulding machines
B22C 9/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
22CASTING; POWDER METALLURGY
CFOUNDRY MOULDING
9Moulds or cores
B22D 37/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
22CASTING; POWDER METALLURGY
DCASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
37Controlling or regulating the pouring of molten metal from a casting melt-holding vessel
B22D 47/02
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
22CASTING; POWDER METALLURGY
DCASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
47Casting plants
02for both moulding and casting
G01N 2021/845
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
845Objects on a conveyor
G01N 2021/8809
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8806Specially adapted optical and illumination features
8809Adjustment for highlighting flaws
出願人
  • 新東工業株式会社 SINTOKOGIO, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 太田 和弘 OTA Kazuhiro
  • 関 勉 SEKI Tsutomu
  • 市野 善三 ICHINO Yoshimitsu
  • 岩崎 順一 IWASAKI Junichi
  • 園原 猛史 SONOHARA Takeshi
  • 川上 隆一 KAWAKAMI Ryuichi
  • 青木 達也 AOKI Tatsuya
代理人
  • 長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki
  • 黒木 義樹 KUROKI Yoshiki
  • 大森 鉄平 OMORI Teppei
優先権情報
2017-10468526.05.2017JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION DEVICE AND CASTING SYSTEM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION ET SYSTÈME DE COULAGE
(JA) 検査装置及び鋳造システム
要約
(EN)
This inspection device is for inspecting the appearance of an object. The inspection device is provided with: an imaging device for imaging the object from a first direction, an illumination unit for irradiating the object with light using a first irradiation pattern in which light is irradiated from a first position and a second irradiation pattern in which light is irradiated from a second position different from the first position, and a controller for acquiring a first inspection image by causing the imaging device to image the object when the object is irradiated with light using the first irradiation pattern, acquiring a second inspection image by causing the imaging device to image the object when the object is irradiated with light using the second irradiation pattern, and inspecting the appearance of the object on the basis of the first inspection image, second inspection image, and a preset reference image. The first position and second position overlap when viewed from the first direction.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'inspection qui est destiné à inspecter l'aspect d'un objet. Le dispositif d'inspection comprend : un dispositif d'imagerie pour imager l'objet à partir d'une première direction, une unité d'éclairage pour irradier l'objet avec de la lumière en utilisant un premier motif d'irradiation dans lequel de la lumière est irradiée à partir d'une première position et un second motif d'irradiation dans lequel de la lumière est irradiée à partir d'une seconde position différente de la première position, et un dispositif de commande pour acquérir une première image d'inspection en amenant le dispositif d'imagerie à imager l'objet lorsque l'objet est irradié avec de la lumière en utilisant le premier motif d'irradiation, pour acquérir une seconde image d'inspection en amenant le dispositif d'imagerie à imager l'objet lorsque l'objet est irradié avec de la lumière en utilisant le second motif d'irradiation, et pour inspecter l'aspect de l'objet sur la base de la première image d'inspection, de la seconde image d'inspection et d'une image de référence prédéfinie. La première position et la seconde position se chevauchent lorsqu'elles sont vues depuis la première direction.
(JA)
検査装置は、対象物の外観を検査する装置であって、対象物を第1方向から撮像する撮像装置と、第1位置から光を照射する第1照射パターン及び第1位置とは異なる第2位置から光を照射する第2照射パターンで、対象物に光を照射する照明部と、第1照射パターンで光が照射されている対象物を撮像装置に撮像させることによって第1検査画像を取得し、第2照射パターンで光が照射されている対象物を撮像装置に撮像させることによって第2検査画像を取得し、第1検査画像、第2検査画像、及び予め設けられた基準画像とに基づいて、対象物の外観を検査するコントローラと、を備え、第1位置と第2位置とは、第1方向から見て互いに重なる。
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