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1. (WO2018216379) 機械学習モデル不正検知システム及び不正検知方法

Pub. No.:    WO/2018/216379    International Application No.:    PCT/JP2018/015055
Publication Date: Fri Nov 30 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Apr 11 01:59:59 CEST 2018
IPC: G06F 21/10
Applicants: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC.
株式会社日立国際電気
Inventors: HASEGAWA, Keigo
長谷川 圭吾
Title: 機械学習モデル不正検知システム及び不正検知方法
Abstract:
機械学習モデルの不正利用や改ざんを検知する機械学習モデル不正検知システム及び不正検知方法を提供する。ライセンス・モデル管理装置が、ライセンサ装置から学習済みモデルとそれに対応するテストデータを入力して、当該学習済みモデルをテストデータを用いて学習を行ってテストデータ学習済みモデルを生成すると共に、テストデータ学習済みモデルと当該モデルにテストデータを入力した場合の出力値とを対応付けて記憶しておき、当該テストデータ学習済みモデルを利用する利用者装置から利用者モデルが入力されると、対応するテストデータを当該利用者モデルに入力して動作させ、その出力データと、記憶されているテストデータ学習済みモデルによる出力値とを比較して、誤差が許容範囲外であれば利用者モデルが不正なものであることを検知する機械学習モデル不正検知システム及び不正検知方法としている。