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1. (WO2018212217) X線検査におけるデータ処理装置及びデータ処理方法、並びに、その装置を搭載したX線検査装置

Pub. No.:    WO/2018/212217    International Application No.:    PCT/JP2018/018867
Publication Date: Fri Nov 23 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Thu May 17 01:59:59 CEST 2018
IPC: G01N 23/087
A61B 6/00
G01N 23/044
G01N 23/18
Applicants: JOB CORPORATION
株式会社ジョブ
Inventors: YAMAKAWA, Tsutomu
山河 勉
YAMAMOTO, Shuichiro
山本 修一郎
OKADA, Masahiro
岡田 雅宏
Title: X線検査におけるデータ処理装置及びデータ処理方法、並びに、その装置を搭載したX線検査装置
Abstract:
X線検査対象の物質の種類や性状を同定した結果を、観察方向に依存せず、且つ、同定処理のためのインターフェース機能を充実させる。データ処理装置(12)において、対象物の透過X線の光子計数値に基づいて画像データが演算される。この画像データに基づき、例えば、X線のn個(nは2以上の正の整数)のエネルギー領域の各別に、且つ、画素毎に、当該X線の減弱情報がされる。この減弱情報には、i)前記n個のエネルギー領域の数と同じn次元数の座標上のベクトル量として表わされ且つ対象物の種類又は性状に固有的に依存する固有情報と、ii)当該固有情報に付随し且つ前記X線が当該対象物を通過するパスの長さに依存する付随情報とが含まれる。この減弱情報から、付随情報に依存しない固有情報のみが生成される。この固有情報に応じた散布点が、前記n次元の座標上、又は当該n次元よりも少ない次元数の座標上にマッピングするための散布点が演算される。