国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018212153) 光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法

Pub. No.:    WO/2018/212153    International Application No.:    PCT/JP2018/018680
Publication Date: Fri Nov 23 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed May 16 01:59:59 CEST 2018
IPC: A61B 18/24
G02B 6/42
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
浜松ホトニクス株式会社
Inventors: TAKATA Yohei
高田 洋平
SHIMIZU Yoshiyuki
清水 良幸
KOSUGI Tsuyoshi
小杉 壮
OKADA Hiroyuki
岡田 裕之
Title: 光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法
Abstract:
光測定装置1は、光ファイバ33を内蔵するカテーテル31のカテーテル先端部31aから出射されるレーザ光Lの強度を測定する。光測定装置1は、カテーテル先端部31aから出射されたレーザ光Lを受ける受光部6と、受光部に6対面する位置に配置された取付部7と、を備える。取付部7は、カテーテル31を収容した管状のフープ36の位置を受光部6に対して規定する。光測定装置1は、フープ36の位置が取付部7によって規定された状態において、レーザ光Lを受光部6に入射させることによりレーザ光Lの強度を得る。