国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018211840) 制御装置及び半導体装置

Pub. No.:    WO/2018/211840    International Application No.:    PCT/JP2018/014134
Publication Date: Fri Nov 23 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Apr 03 01:59:59 CEST 2018
IPC: H02M 1/00
H02M 1/08
H02M 7/48
Applicants: FUJI ELECTRIC CO., LTD.
富士電機株式会社
Inventors: AKAHANE Masashi
赤羽 正志
Title: 制御装置及び半導体装置
Abstract:
制御装置41,42は、半導体素子D1,D2に流れる電流に対するセンス電流を検出する電流検出部10、半導体素子のターンオンに応じてセンス電流の検出信号の過渡的な立上りから立下りまでの過渡センス期間を検出する過渡センス期間検出部20、及びセンス電流の検出信号に基づいて、過渡センス期間の検出結果に応じた半導体素子の制御を行う制御部を備える。過渡センス期間検出部により過渡センス期間を検出し、制御部によりセンス電流の検出信号に基づいて、過渡センス期間の検出結果に応じた半導体素子の制御を行うことで、過渡センス期間のセンス電流の過渡応答検出結果に応じて過電流を判別して半導体素子を能動的に保護することができる。