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1. (WO2018211634) 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム

Pub. No.:    WO/2018/211634    International Application No.:    PCT/JP2017/018566
Publication Date: Fri Nov 23 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Thu May 18 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01K 11/32
Applicants: FUJITSU LIMITED
富士通株式会社
Inventors: ARIOKA, Takahiro
有岡孝祐
UNO, Kazushi
宇野和史
KASAJIMA, Takeo
笠嶋丈夫
Title: 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム
Abstract:
温度測定装置は、所定の経路に沿って配置され、所定区間の前後に同じ温度分布が得られる2区間が設けられた光ファイバと、前記光ファイバに光を入射する光源と、前記光ファイバからの後方散乱光に基づいて前記光ファイバの延伸方向の温度分布を測定する温度測定部と、前記2区間それぞれの前記後方散乱光に含まれるストークス成分とアンチストークス成分とを用いて、前記温度測定部が測定した前記所定区間の温度分布を補正する補正部と、を備える。