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1. WO2018207720 - 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置

公開番号 WO/2018/207720
公開日 15.11.2018
国際出願番号 PCT/JP2018/017592
国際出願日 07.05.2018
IPC
G01B 11/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
25by projecting a pattern, e.g. ; one or more lines,; moiré fringes on the object
G01B 11/2513
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
25by projecting a pattern, e.g. ; one or more lines,; moiré fringes on the object
2513with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
G01B 11/2531
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
25by projecting a pattern, e.g. ; one or more lines,; moiré fringes on the object
2531using several gratings, projected with variable angle of incidence on the object, and one detection device
出願人
  • 国立大学法人福井大学 UNIVERSITY OF FUKUI [JP]/[JP]
発明者
  • 藤垣 元治 FUJIGAKI Motoharu
  • 赤塚 優一 AKATSUKA Yuichi
  • 高田 大嗣 TAKATA Daishi
代理人
  • あいわ特許業務法人 AIWA INTERNATIONAL PATENT AGENCY
優先権情報
2017-09214408.05.2017JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) METHOD AND DEVICE FOR THREE DIMENSIONAL MEASUREMENT USING FEATURE QUANTITY
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE UTILISANT UNE QUANTITÉ CARACTÉRISTIQUES
(JA) 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置
要約
(EN)
A relationship between spatial coordinates and a plurality of feature quantities obtained on the basis of patterns projected from a plurality of projection units and/or a change of the patterns is previously obtained, and using the relationship between the feature quantities and the spatial coordinates, the spatial coordinates of a surface of a subject to be measured are obtained on the basis of feature quantities obtained on the basis of patterns projected on the surface from the projection units or a change of the patterns.
(FR)
L'invention concerne l'obtention préalable d'une relation entre des coordonnées spatiales et une pluralité de quantités caractéristiques obtenues en fonction de motifs projetés à partir d'une pluralité d'unités de projection et/ou d'un changement des motifs, et à l'aide de la relation entre les quantités caractéristiques et les coordonnées spatiales, l'obtention des coordonnées spatiales d'une surface d'un sujet à mesurer en fonction de quantités caractéristiques obtenues en fonction de motifs projetés sur la surface à partir des unités de projection ou d'un changement des motifs.
(JA)
複数の投影部から投影されたパターンまたは前記パターンの変化の少なくとも一方により得られた複数個の特徴量と空間座標との関係を予め求め、前記特徴量と前記空間座標の前記関係を用いて、計測対象物表面に前記複数の投影部から投影されたパターンまたは前記パターンの変化から得られた特徴量から前記対象物表面の空間座標を求める。
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