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1. (WO2018207481) 自動検査装置

Pub. No.:    WO/2018/207481    International Application No.:    PCT/JP2018/012371
Publication Date: Fri Nov 16 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Mar 28 01:59:59 CEST 2018
IPC: G06F 11/36
Applicants: FURUNO ELECTRIC CO., LTD.
古野電気株式会社
Inventors: HIRAOKA, Yasushi
平岡 康
TSUDAKA, Kentaro
津高 健太郎
Title: 自動検査装置
Abstract:
【課題】機器仕様情報が変更された場合であっても、検査シナリオの変更が不要又は僅かで済む自動検査装置を提供する。 【解 決手段】自動検査装置20は、変換部30と、出力部31と、取得部32と、検査部42と、を備える。変換部30は、検査対象機10に行わせる処理と、前記 検査対象機の期待動作又は期待データと、を含む検査シナリオのうち検査対象機10に行わせる処理を機器仕様情報に対応した変換信号に変換する。出力部31 は、変換信号を検査対象機10へ出力する。取得部32は、変換信号に応じて得られる検査対象機10の応答データを取得する。検査部42は、応答データと、 機器仕様情報又は検査シナリオに含まれる、期待動作又は期待データと、の一致度を算出する。