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1. (WO2018207455) チップ抵抗器の製造方法
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国際公開番号: WO/2018/207455 国際出願番号: PCT/JP2018/009791
国際公開日: 15.11.2018 国際出願日: 13.03.2018
IPC:
H01C 17/242 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
C
抵抗器
17
抵抗器を製造するために特に適用される装置または方法
22
トリミングに適用されるもの
24
抵抗物質の除去または付加によるもの
242
レーザーによるもの
出願人:
KOA株式会社 KOA CORPORATION [JP/JP]; 長野県伊那市荒井3672番地 3672, Arai, Ina-shi, Nagano 3960025, JP
発明者:
松本 健太郎 MATSUMOTO Kentaro; JP
井口 夏希 IGUCHI Natsuki; JP
代理人:
特許業務法人 武和国際特許事務所 THE PATENT BODY CORPORATE TAKEWA INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都港区西新橋3丁目13番3号 ユニゾ西新橋三丁目ビル UNIZO Nishishimbashi 3-chome Bldg., 13-3, Nishishimbashi 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003, JP
優先権情報:
2017-09473611.05.2017JP
発明の名称: (EN) CHIP RESISTOR MANUFACTURING METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION DE RÉSISTANCE PAVÉ
(JA) チップ抵抗器の製造方法
要約:
(EN) Provided is a method for manufacturing a chip resistor with which an adverse effect on characteristics due to a microcrack can be reduced, and stable and highly accurate resistance value adjustment can be performed by means of a second trimming groove for fine adjustment. In a chip resistor 1 comprising a resistor body 4 formed with a first trimming groove 5 for coarse adjustment and a second trimming groove 6 for fine adjustment: a first lateral cut portion 5b after an L-turn of the first trimming groove 5 is set to a certain length L1; the coordinates of a trimming start point of the second trimming groove 6 are constantly set to a position spaced apart from a first longitudinal cut portion 5a of the first trimming groove 5 by a certain distance L2; and the second trimming groove 6 inversely opposing the first trimming groove 5 is formed by irradiating laser light from the coordinates in a direction orthogonal to an electrode-to-electrode direction.
(FR) L'invention concerne un procédé de fabrication d'une résistance pavé avec laquelle un effet indésirable sur les caractéristiques dû à une microfissure peut être réduit, et un ajustage de valeur de résistance stable et hautement précis peut être réalisé au moyen d'une seconde rainure d'ajustage pour un ajustage fin. Dans une résistance pavé 1 comprenant un corps de résistance 4 constitué d'une première rainure d'ajustage 5 pour un ajustage grossier et d'une seconde rainure d'ajustage 6 pour un ajustage fin : une première partie de coupe latérale 5b après un quart de tour de la première rainure d'ajustage 5 est fixée à une certaine longueur L1 ; les coordonnées d'un point de départ d'ajustage de la seconde rainure d'ajustage 6 sont constamment réglées à une position espacée d'une première partie de coupe longitudinale 5a de la première rainure d'ajustage 5 d'une certaine distance L2 ; et la seconde rainure d'ajustage 6 à l'opposé de la première rainure d'ajustage 5 est formée par irradiation d'une lumière laser à partir des coordonnées dans une direction orthogonale à une direction d'électrode à électrode.
(JA) マイクロクラックに起因する特性への悪影響を軽減することができると共に、微調整用の第2トリミング溝による安定した高精度な抵抗値調整を行うことができるチップ抵抗器の製造方法を提供する。 抵抗体4に粗調整用の第1トリミング溝5と微調整用の第2トリミング溝6が形成されているチップ抵抗器1において、第1トリミング溝5のLターン後の第1横方向カット部5bを一定長さL1に設定すると共に、第2トリミング溝6のトリミング開始点の座標を第1トリミング溝5の第1縦方向カット部5aから常に一定距離L2だけ隔てた位置に設定し、当該座標から電極間方向と直交する方向へレーザ光を照射することにより、第1トリミング溝5と逆向きに対向する第2トリミング溝6を形成するようにした。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)