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1. (WO2018207255) 合焦機能を備えた標本観察装置
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国際公開番号: WO/2018/207255 国際出願番号: PCT/JP2017/017532
国際公開日: 15.11.2018 国際出願日: 09.05.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 7/28 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
7
光学要素用のマウント,調節手段,または光密結合
28
焦点調節信号の自動発生用のシステム
出願人:
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
発明者:
大平まゆみ ODAIRA Mayumi; JP
代理人:
斎藤圭介 SAITO Keisuke; JP
平山巌 HIRAYAMA Iwao; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) SAMPLE OBSERVATION DEVICE EQUIPPED WITH FOCUS FUNCTION
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON ÉQUIPÉ D'UNE FONCTION DE MISE AU POINT
(JA) 合焦機能を備えた標本観察装置
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to provide a sample observation device with a focus function capable of detecting the focus state even if an image of the sample observed contains a pixel with a brightness that may cause an error. Provided is a sample observation device 1, wherein: the device comprises a light source, a lighting system 2, an observing optical system 3, a detection element, a processing device, and a drive control device; the lighting system 2 has a condenser lens 4 and a diaphragm 5; the observing optical system 3 has an objective lens 6 and a dimming member 7; the dimming member 7 is arranged at a position conjugate to the diaphragm 5; the diaphragm 5 has an opening area 5a; the dimming material 7 has a dimming area 7a; the size and the position of the opening area 5a and the size and the position of the dimming area 7a are established to create a prescribed state; the processing device calculates the amount of light received by the detection element; and the drive control device changes the interval between a sample S and the objective lens 6 on the basis of the amount of light such that the amount of light is minimized.
(FR) Le but de la présente invention est de fournir un dispositif d'observation d'échantillon ayant une fonction de mise au point apte à détecter l'état de mise au point même si une image de l'échantillon observé contient un pixel ayant une luminosité qui peut provoquer une erreur. L'invention concerne un dispositif d'observation d'échantillon (1), dans lequel : le dispositif comprend une source de lumière, un système d'éclairage (2), un système optique d'observation (3), un élément de détection, un dispositif de traitement et un dispositif de commande d'entraînement ; le système d'éclairage (2) a une lentille de condenseur (4) et un diaphragme (5) ; le système optique d'observation (3) a une lentille d'objectif (6) et un élément de gradation (7) ; l'élément de gradation (7) est disposé à une position conjuguée au diaphragme (5) ; le diaphragme (5) a une zone d'ouverture (5a) ; le matériau de gradation (7) a une zone de gradation (7a) ; la taille et la position de la zone d'ouverture (5a) et la taille et la position de la zone de gradation (7a) sont établies pour créer un état prescrit ; le dispositif de traitement calcule la quantité de lumière reçue par l'élément de détection ; et le dispositif de commande d'entraînement change l'intervalle entre un échantillon (S) et la lentille d'objectif (6) sur la base de la quantité de lumière de telle sorte que la quantité de lumière soit réduite au minimum.
(JA) 誤差要因となる明るさを持つ画素が含まれていても、合焦状態を検出することができる合焦機能を備えた標本観察装置を提供する。 標本観察装置1は、光源と、照明光学系2と、観察光学系3と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、照明光学系2は、コンデンサレンズ4と、開口部材5と、を有し、観察光学系3は、対物レンズ6と、減光部材7と、を有し、減光部材7は、開口部材5と共役な位置に配置され、開口部材5は、開口領域5aを有し、減光部材7は、減光領域7aを有し、所定の状態が生じるように、開口領域5aの大きさ、開口領域5aの位置、減光領域7aの大きさ、及び減光領域7aの位置が設定されており、処理装置は、検出素子が受光した光の光量を求め、駆動制御装置は、光量が最小となるように、光量に基づいて標本Sと対物レンズ6との間隔を変える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)