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1. WO2018207225 - 時系列データの分析制御方法および分析制御装置

公開番号 WO/2018/207225
公開日 15.11.2018
国際出願番号 PCT/JP2017/017348
国際出願日 08.05.2017
IPC
G01D 21/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
D特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;特に特定の変量に適用されない伝達または変換装置;他に分類されない測定または試験
21他に分類されない測定または試験
02単一の他のサブクラスに包含されない手段による2以上の変量の測定
CPC
G01D 21/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
21Measuring or testing not otherwise provided for
02Measuring two or more variables by means not covered by a single other subclass
G05B 23/0224
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
0205by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
0218characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
0224Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
G05B 23/0281
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
0205by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
0259characterized by the response to fault detection
0275Fault isolation and identification, e.g. classify fault; estimate cause or root of failure
0281Quantitative, e.g. mathematical distance; Clustering; Neural networks; Statistical analysis
G06F 17/18
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
10Complex mathematical operations
18for evaluating statistical data ; , e.g. average values, frequency distributions, probability functions, regression analysis
G06Q 10/04
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
QDATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
10Administration; Management
04Forecasting or optimisation, e.g. linear programming, "travelling salesman problem" or "cutting stock problem"
G06Q 10/0639
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
QDATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
10Administration; Management
06Resources, workflows, human or project management, e.g. organising, planning, scheduling or allocating time, human or machine resources; Enterprise planning; Organisational models
063Operations research or analysis
0639Performance analysis
出願人
  • 株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 中川 弘充 NAKAGAWA, Hiromitsu
  • 室 啓朗 MURO, Keiro
代理人
  • 特許業務法人ウィルフォート国際特許事務所 WILLFORT INTERNATIONAL PATENT FIRM
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TIME SERIES DATA ANALYSIS CONTROL METHOD AND ANALYSIS CONTROL DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE COMMANDE D’ANALYSE DE DONNÉES DE SÉRIE CHRONOLOGIQUE ET DISPOSITIF DE COMMANDE D’ANALYSE
(JA) 時系列データの分析制御方法および分析制御装置
要約
(EN)
This analysis control device controls analysis based on time series data for each of a plurality of sensors corresponding to a plurality of parts composing a target device. Specifically, this analysis control device acquires sensor data sets falling within a time period to be analyzed from among time series data for the plurality of sensors. Each sensor data set includes measured values that are values measured by the sensor corresponding to the sensor data set. For each of the plurality of sensors, the analysis control device calculates an evaluation value according to simple evaluation using two or more sensor data sets corresponding to the sensor from among the plurality of sensor data sets falling within the time period to be analyzed. The analysis control device sets the execution order of the analysis based on the sensor measurement values within a restricted time corresponding to the time period to be analyzed to be a descending order from the highest evaluation value.
(FR)
Ce dispositif de commande d’analyse commande l’analyse sur la base de données de série chronologique pour chacun d’une pluralité de capteurs correspondant à une pluralité de parties composant un dispositif cible. Spécifiquement, ce dispositif de commande d’analyse acquiert des ensembles de données de capteur situées dans une période à analyser parmi des données de séries chronologiques pour la pluralité de capteurs. Chaque ensemble de données de capteur comprend des valeurs mesurées qui sont des valeurs mesurées par le capteur correspondant à l’ensemble de données de capteur. Pour chacun de la pluralité de capteurs, le dispositif de commande d’analyse calcule une valeur d’évaluation selon une évaluation simple au moyen de deux ensembles de données de capteur ou plus correspondant au capteur parmi la pluralité d’ensembles de données de capteur situées dans la période de temps à analyser. Le dispositif de commande d’analyse définit l’ordre d’exécution de l’analyse sur la base des valeurs de mesure de capteur dans un temps limité correspondant à la période à analyser comme étant un ordre décroissant à partir de la valeur d’évaluation la plus élevée.
(JA)
分析制御装置は、対象装置を構成する複数の部品に対応した複数のセンサの各々の時系列データに基づく分析を制御する。具体的には、分析制御装置は、複数のセンサの各々の時系列データのうち分析対象時間帯に属するセンサデータセットを取得する。各センサデータセットは、そのセンサデータセットに対応したセンサにより計測された値である計測値を含む。分析制御装置は、複数のセンサの各々について、分析対象時間帯に属する複数のセンサデータセットのうち当該センサに対応した2以上のセンサデータセットを用いた簡易評価に従う評価値を算出する。分析制御装置は、分析対象時間帯に対応した制約時間における、センサの計測値に基づく分析の実行順を、算出された評価値の高い順とする。
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