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1. (WO2018198589) 分析システム
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国際公開番号: WO/2018/198589 国際出願番号: PCT/JP2018/010436
国際公開日: 01.11.2018 国際出願日: 16.03.2018
IPC:
G01N 23/2204 (2018.01) ,G01N 23/2206 (2018.01)
[IPC code unknown for G01N 23/2204][IPC code unknown for G01N 23/2206]
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
加賀爪 明子 KAGATSUME Akiko; JP
朴 ミンソク PARK Minseok; JP
圓山 百代 ENYAMA Momoyo; JP
白崎 保宏 SHIRASAKI Yasuhiro; JP
波田野 道夫 HATANO Michio; JP
代理人:
特許業務法人平木国際特許事務所 HIRAKI & ASSOCIATES; 東京都港区愛宕二丁目5-1 愛宕グリーンヒルズMORIタワー32階 Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232, JP
優先権情報:
2017-08782827.04.2017JP
発明の名称: (EN) ANALYZING SYSTEM
(FR) SYSTÈME D’ANALYSE
(JA) 分析システム
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to provide a multi-coordinated analyzing device that makes it possible to readily observe the same visual field by using a plurality of different kinds of analyzing device and in which observation results for the same visual field are recorded collectively. An analyzing system according to the present invention includes: a first analyzing unit that obtains first observation data by analyzing a sample and that also obtains position information about the analyzed sample; a position setting unit that performs position alignment of the sample on the basis of the position information obtained by the first analyzing unit; and a second analyzing unit that obtains second observation data by analyzing, by using a method different from the method used by the first analyzing unit, the sample placed at the position aligned by the position setting unit (see fig. 1).
(FR) L’objectif de la présente invention est de fournir un dispositif d’analyse multicoordonné qui permet d’observer aisément le même champ visuel en utilisant une pluralité de types différents de dispositif d’analyse et dans lequel des résultats d’observation pour le même champ visuel sont enregistrés collectivement. Un système d’analyse selon la présente invention comprend : une première unité d’analyse qui obtient des premières données d’observation par analyse d’un échantillon et qui obtient en outre des informations de position concernant l’échantillon analysé ; une unité de réglage de position qui effectue un alignement de position de l’échantillon sur la base des informations de position obtenues par la première unité d’analyse ; et une deuxième unité d’analyse qui obtient des deuxièmes données d’observation par analyse, au moyen d’un procédé différent du procédé utilisé par la première unité d’analyse, de l’échantillon placé à la position alignée par l’unité de réglage de position (voir figure 1).
(JA) 本発明の目的は、同一視野を複数の種類の異なる分析装置により容易に観察でき、同一視野の観察結果がまとまって記録されている複数連携分析装置を提供することにある。本発明に係る分析システムは、試料を分析して第1の観察データを取得するとともに、分析した試料の位置情報を取得する第1の分析部と、前記第1の分析部により取得した位置情報に基づき、試料の位置合わせを行う位置決め部と、前記位置決め部により位置合わせした試料に対し、前記第1の分析部と異なる手法で分析して第2の観察データを取得する第2の分析部とを備える(図1参照)。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)