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1. (WO2018198553) X線検査システム及びX線受像装置

Pub. No.:    WO/2018/198553    International Application No.:    PCT/JP2018/009496
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Mar 13 00:59:59 CET 2018
IPC: G01N 23/04
G01N 23/083
G01N 23/10
Applicants: FUJI ELECTRIC CO., LTD.
富士電機株式会社
OFFICE NISHIKAWA CO., LTD.
オフィス西川株式会社
T&S CORPORATION
株式会社ティーアンドエス
Inventors: KOBAYASHI, Hironobu
小林 裕信
SUMIKAWA, Takeshi
住川 健
FUEKI, Yutaka
笛木 豊
KOIKE, Kazunori
小池 一徳
CHOI, Seongmin
崔 成民
NISHIKAWA, Tetsuya
西川 徹矢
YOKOSHIMA, Shin
横島 伸
NIKAIDO, Yoji
二階堂 羊司
Title: X線検査システム及びX線受像装置
Abstract:
大型の検査対象物に対しても好適なX線検査を実行することができるX線検査システム及びX線受像装置を提供する。X線照射装置(100)は、検査対象物(TO)に対してX線を照射する。X線受像装置(200)は、X線照射装置(100)に対する相対位置を変化させながら検査対象物(TO)の複数部位を透過した複数のX線像を受像する。X線像合成装置(300)は、X線受像装置(200)が受像した複数のX線像を合成する。