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1. (WO2018198500) 照合装置、照合方法および照合プログラム

Pub. No.:    WO/2018/198500    International Application No.:    PCT/JP2018/006035
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Feb 21 00:59:59 CET 2018
IPC: G06T 7/00
Applicants: FUJITSU LIMITED
富士通株式会社
Inventors: AOKI, Takahiro
青木 隆浩
Title: 照合装置、照合方法および照合プログラム
Abstract:
【課題】 認証精度を向上させることができる照合装置、照合方法および照合プログラムを提供する。 【解決手段】 照合装置は、予め登録されている登録画像中の複数の特徴点それぞれについて、撮影装置が取得した照合画像中の各特徴点との位置差および特徴量の類似度を算出する類似度算出部と、前記登録画像中の各特徴点について、前記照合画像のうち前記類似度が最大となる特徴点との位置差が閾値より大きい場合に、前記類似度が次点以下の特徴点との前記類似度を用いて、前記照合画像と前記登録画像とを照合する照合部と、を備える。