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1. (WO2018198292) 計測装置及び計測方法

Pub. No.:    WO/2018/198292    International Application No.:    PCT/JP2017/016849
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Fri Apr 28 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 21/49
Applicants: OLYMPUS CORPORATION
オリンパス株式会社
Inventors: MURAKAMI, Miyuki
村上 峰雪
Title: 計測装置及び計測方法
Abstract:
計測装置は、被写体に対してパルス光又は周期的に強度を変調させた光を投光する投光部と、複数の画素を有し、前記投光部が投光した光の前記被写体による後方散乱光を複数回撮像して、複数の画像信号を出力する撮像部と、前記画素ごとに、前記複数の画像信号の中から、基準光量に最も近い画像信号を選択する選択部と、前記画素ごとに、前記選択部が選択した画像信号が撮像された際のTOF情報を算出し、該TOF情報に基づいて前記被写体の特性を算出する特性算出部と、を備える。これにより、後方散乱光の光量によらずに信頼性の高いTOF情報を計測することができる計測装置を提供する。