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1. (WO2018198267) 因果関係学習方法、プログラム、装置および異常分析システム

Pub. No.:    WO/2018/198267    International Application No.:    PCT/JP2017/016729
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Fri Apr 28 01:59:59 CEST 2017
IPC: G05B 23/02
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: FUJITSUKA, Masashi
藤塚 理史
Title: 因果関係学習方法、プログラム、装置および異常分析システム
Abstract:
本発明は、決定論的なシステムにおいて高精度に因果関係を学習できる方法、プログラム、装置、および因果関係を用いて異常分析を行うシステムを提供する。本発明の一実施形態に係る因果関係学習装置は、2つのセンサによって測定された測定値間の相関を判定する相関判定部と、相関が所定の基準よりも低い場合に、結果である測定値から原因である測定値を推定することによって2つのセンサ間の因果関係を判定する低相関用因果関係推定部と、を備える。