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1. (WO2018193800) 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物
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国際公開番号: WO/2018/193800 国際出願番号: PCT/JP2018/012546
国際公開日: 25.10.2018 国際出願日: 27.03.2018
IPC:
G01B 15/00 (2006.01) ,G01B 15/04 (2006.01) ,G01N 23/046 (2018.01) ,G01N 23/083 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
15
波動性または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
15
波動性または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置
04
輪郭または曲率の測定用
[IPC code unknown for G01N 23/046]
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
083
放射線がX線であるもの
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関一丁目3番1号 1-3-1 Kasumigaseki, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
発明者:
岸 武人 KISHI Taketo; JP
佐藤 真 SATO Makoto; JP
高辻 利之 TAKATSUJI Toshiyuki; JP
阿部 誠 ABE Makoto; JP
藤本 弘之 FUJIMOTO Hiroyuki; JP
代理人:
大坪 隆司 OTSUBO Takashi; JP
優先権情報:
2017-08477421.04.2017JP
発明の名称: (EN) UTENSIL FOR EVALUATING LENGTH MEASUREMENT ERROR IN X-RAY CT DEVICE FOR THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT
(FR) DISPOSITIF POUR ÉVALUER UNE ERREUR DE MESURE DE LONGUEUR DANS UN DISPOSITIF DE TOMODENSITOMÉTRIE À RAYONS X RELATIVE À UNE MESURE DE FORME TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物
要約:
(EN) In order to capture without deficiency the unique spatial distortion of an X-ray CT device and evaluate the three-dimensional shape measuring accuracy of the X-ray CT device, supporting rods 36, 37, 38 having different lengths and each having a sphere 35 fixed to a distal end thereof are attached to a base 31 in a utensil 30, thereby arranging 15 of the spheres 35 in XYZ space above the base 31. The supporting rods 36, 37 and 38 having different lengths and supporting the spheres 35 are arranged with a prescribed spacing on a planar surface 32 of an upper portion of the base 31. By this means, the spheres 35 are each disposed in the XYZ space with appropriate distances between the spheres.
(FR) Afin de capturer sans faille la distorsion spatiale unique d'un dispositif de tomodensitométrie à rayons X et d'évaluer la précision de mesure de forme tridimensionnelle du dispositif de tomodensitométrie à rayons X, des tiges de support (36, 37, 38) de longueurs différentes et pourvues chacune d'une sphère (35) fixée à une extrémité distale de celle-ci, sont fixées à une base (31) dans un dispositif (30), de manière à former un agencement (15) des sphères (35) dans un espace XYZ se situant au-dessus de la base (31). Les tiges de support (36, 37 et 38) de longueurs différentes qui supportent les sphères (35) sont agencées selon un espacement prescrit sur une surface plane (32) d'une partie supérieure de la base (31). Par ce moyen, les sphères (35) sont placées chacune dans l'espace XYZ avec des distances appropriées entre les sphères.
(JA) X線CT装置固有の空間歪みを不足なく捉え、X線CT装置の三次元形状測定精度を評価するために、器物30では、先端に球35を固定した長さの異なる支持棒36、37、38を基台31に取り付けることで、基台31上のXYZ空間に15個の球35を配置している。基台31の上部の平坦面32に、球35を支持する長さの異なる支持棒36、37、38が所定の間隔で配置される。これにより、球35は、それぞれ適当な球間距離でXYZ空間に配置される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)