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1. (WO2018193572) 分光光度計
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2018/193572 国際出願番号: PCT/JP2017/015859
国際公開日: 25.10.2018 国際出願日: 20.04.2017
IPC:
G01J 3/36 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
30
スペクトル上で直接スペクトル線強度を測定するもの
36
別々の検出器によるスペクトル中の2以上のバンドの調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
渡邉 真人 WATANABE Masato; JP
軍司 昌秀 GUNJI Masahide; JP
代理人:
野口 大輔 NOGUCHI Daisuke; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) SPECTROPHOTOMETER
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE
(JA) 分光光度計
要約:
(EN) In this spectrophotometer, the positional relation between a spectroscope and a PDA is set such that the distance between a reflection position of light reflected onto a light-receiving surface of a PD, among PDs constituting the PDA, that receives light at least having a wavelength between 200 nm and 300 nm and an incident position at which the reflected light enters a light-receiving surface of said PDA after being reflected once again on a protective plate becomes equal to or less than the width dimension of one of the PDs constituting the PDA.
(FR) L'invention concerne un spectrophotomètre dans lequel la relation de position entre un spectroscope et un PDA est réglée de telle sorte que la distance entre une position de réflexion de la lumière réfléchie sur une surface de réception de lumière d'une PD, parmi des PD constituant le PDA, qui reçoit de la lumière présentant au moins une longueur d'onde comprise entre 200 nm et 300 nm et une position incidente au niveau de laquelle la lumière réfléchie entre dans une surface de réception de lumière dudit PDA après avoir été réfléchie une nouvelle fois sur une plaque de protection devienne inférieure ou égale à la dimension de largeur de l'une des PD constituant le PDA.
(JA) 分光光度計は、PDAを構成するPDのうち、少なくとも200nmから300nmまでの間の波長をもつ光を受光するPDの受光面で反射した光の反射位置と、その反射光が保護板で再び反射して当該PDAの受光面へ入射するときのその入射位置との間の距離が、当該PDAを構成する1つのPDの幅寸法以下となるように、分光器とPDAとの位置関係が設定されている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)