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1. (WO2018193491) レーザビームプロファイル測定装置
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国際公開番号: WO/2018/193491 国際出願番号: PCT/JP2017/015433
国際公開日: 25.10.2018 国際出願日: 17.04.2017
IPC:
G01J 1/02 (2006.01)
[IPC code unknown for G01J 1/02]
出願人:
カナレ電気株式会社 CANARE ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 愛知県日進市藤枝町奥廻間1201番地10 1201-10 Okuhazama, Fujieda-cho, Nisshin-shi, Aichi 4700112, JP
発明者:
常包 正樹 TSUNEKANE, Masaki; JP
代理人:
黒田 健二 KURODA, Kenji; JP
松本 孝 MATSUMOTO, Takashi; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) LASER BEAM PROFILE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE PROFIL DE FAISCEAU LASER
(JA) レーザビームプロファイル測定装置
要約:
(EN) The present invention provides a measurement device that enables high-precision measurement of a beam profile of high-powered laser. This laser beam profile measurement device comprises: a plate-like or blockish fluorescence generation element that has an incidence surface on which a laser beam is incident and an emission surface from which the laser beam is emitted; an optical separation element that separates, from the laser beam, a fluorescence which is generated inside the fluorescence generation element and emitted from the emission surface; and an image element that receives the fluorescence, wherein the plate-like or blockish fluorescence generation element has a closed slanted surface that intersects obliquely with the incidence surface and emission surface of the fluorescence generation element. The fluorescence generation element further has a support body that allows at least fluorescence to transmit therethrough, wherein it is preferable for the support body to have one surface optically joined to the emission surface. The closed slanted surface is preferably configured to constitute a lateral surface of a truncated cone or truncated pyramid, in which the incidence surface is the upper base/lower base and the emission surface is the lower base/upper base. It is also preferable for the slanted surface to be formed with grooves that are cut deep enough to exceed the thickness of the fluorescence generation element so as to reach the support body.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure qui permet une mesure de haute précision d’un profil de faisceau d’un laser à haute puissance. Le dispositif de mesure de profil de faisceau laser selon l’invention comprend : un élément de génération de fluorescence de type plaque ou en forme de bloc qui comporte une surface d’incidence sur laquelle un faisceau laser est incident et une surface d’émission depuis laquelle le faisceau laser est émis ; un élément de séparation optique qui sépare, à partir du faisceau laser, une fluorescence qui est générée à l’intérieur de l’élément de génération de fluorescence et émise depuis la surface d’émission ; et un élément d’image qui reçoit la fluorescence, l’élément de génération de fluorescence de type plaque ou en forme de bloc comportant une surface inclinée fermée qui coupe obliquement la surface d’incidence et la surface d’émission de l’élément de génération de fluorescence. L’élément de génération de fluorescence comporte en outre un corps de support qui permet au moins à la fluorescence d’être transmise à travers celui-ci, le corps de support comportant de préférence une surface jointe optiquement à la surface d’émission. La surface inclinée fermée est de préférence configurée pour constituer une surface latérale d’un cône tronqué ou d’une pyramide tronquée, la surface d’incidence étant la base supérieure/base inférieure et la surface d’émission étant la base inférieure/base supérieure. Il est en outre préférable que la surface inclinée soit formée avec des rainures qui sont découpées assez profondément pour dépasser l’épaisseur de l’élément de génération de fluorescence de façon à atteindre le corps de support.
(JA) 高出力レーザのビームプロファイルを高精度に測定することを可能とする測定装置を提供する。レーザビームプロファイル測定装置は、レーザ光が入射する入射面と前記レーザ光が出射する出射面とを有する、板状またはブロック状の蛍光発生素子と、蛍光発生素子内で発生し出射面から出射する蛍光を、レーザ光から分離する光分離素子と、蛍光を受けるイメージ素子と、を含み、板状またはブロック状の蛍光発生素子は、当該蛍光発生素子の入射面及び出射面と斜め方向に交わる、閉じられた傾斜面を有する。蛍光発生素子は、少なくとも蛍光が透過する支持体をさらに有し、支持体の一の面が、蛍光発生素子の出射面に光学的に接合されていると良い。閉じられた傾斜面は、入射面を上底/下底とし出射面を下底/上底とする円錐台または角錐台の側面を成すと良い。傾斜面は、蛍光発生素子の厚みを超えて支持体に達する溝により形成されていると良い。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)