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1. (WO2018190013) イオン分析装置及びイオン解離方法
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国際公開番号: WO/2018/190013 国際出願番号: PCT/JP2018/007346
国際公開日: 18.10.2018 国際出願日: 27.02.2018
IPC:
H01J 49/42 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
34
動的分光器
42
走行安定型分光器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
高橋 秀典 TAKAHASHI, Hidenori; JP
山内 祥聖 YAMAUCHI, Shosei; JP
代理人:
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
優先権情報:
2017-07774710.04.2017JP
発明の名称: (EN) ION ANALYSIS DEVICE AND ION DISSOCIATION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'IONS ET PROCÉDÉ DE DISSOCIATION D'IONS
(JA) イオン分析装置及びイオン解離方法
要約:
(EN) Precursor ions are trapped inside an ion trap (2), after which electrons having a high energy of 30 eV or more are introduced from an electron irradiation unit (7) into the ion trap (2), thereby increasing the valence of the ions by the mutual action between the electrons and the ions. Subsequently, hydrogen radicals are input from a hydrogen radical irradiation unit (5) into the ion trap (2) and the ions are dissociated by the HAD method. In the HAD method, higher valence of the ions results in a higher dissociation efficiency. Thus, even when using an ion source such as, for example, an MALDI ion source in which almost only monovalent ions are generated, it is possible to enhance the dissociation efficiency by increasing the valence of the precursor ions inside the ion trap (2).
(FR) Des ions précurseurs sont piégés à l'intérieur d'un piège (2) à ions, puis des électrons présentant une énergie élevée d'au moins 30 eV sont introduits dans le piège (2) à ions à partir d'une unité (7) d'irradiation d'électrons, accroissant ainsi la valence des ions par l'action mutuelle entre les électrons et les ions. Ensuite, des radicaux hydrogène sont introduits dans le piège (2) à ions à partir d'une unité (5) d'irradiation de radicaux hydrogène et les ions sont dissociés par le procédé HAD. Dans le procédé HAD, une valence plus élevée des ions se traduit par un rendement de dissociation plus élevé. Ainsi, même lors de l'utilisation d'une source d'ions, comme par exemple une source d'ions MALDI, dans laquelle sont générés presque exclusivement des ions monovalents, il est possible de renforcer le rendement de dissociation en accroissant la valence des ions précurseurs à l'intérieur du piège (2) à ions.
(JA) イオントラップ(2)の内部にプリカーサイオンを捕捉したあと、電子照射部(7)から30eV 以上の高エネルギーの電子をイオントラップ(2)内に導入し、電子とイオンとの相互作用により該イオンの価数を増加させる。引き続き、水素ラジカル照射部(5)から水素ラジカルをイオントラップ(2)内に入し、HAD法によりイオンを解離させる。HAD法ではイオンの価数が高いほうが解離効率が高い。そのため、例えばMALDIイオン源のように殆ど1価であるイオンしか生成されないイオン源を用いる場合であっても、イオントラップ(2)内でプリカーサイオンの価数を増加させて解離効率を高めることができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)