このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018185891) 塗膜状態解析装置および膜厚測定装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2018/185891 国際出願番号: PCT/JP2017/014278
国際公開日: 11.10.2018 国際出願日: 05.04.2017
IPC:
G01B 21/08 (2006.01) ,B05C 11/00 (2006.01) ,G01B 11/02 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
21
このサブクラスの他のグループの,個別の形式の測定手段に適合しない測定装置またはその細部
02
長さ,幅または厚さの測定用
08
厚さ測定用
B 処理操作;運輸
05
霧化または噴霧一般;液体または他の流動性材料の表面への適用一般
C
液体または他の流動性材料を表面に適用する装置一般
11
グループB05C1/00からB05C9/00までに特に分類されない構成部品,細部または付属品
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
02
長さ,幅または厚み測定用
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人:
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南二丁目15番3号 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290, JP
発明者:
栢場 皓之 KAYABA, Hiroyuki; JP
代理人:
永井 冬紀 NAGAI, Fuyuki; JP
渡辺 隆男 WATANABE, Takao; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) COATING FILM STATE ANALYSIS DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉTAT DE FILM DE REVÊTEMENT ET DISPOSITIF DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE FILM
(JA) 塗膜状態解析装置および膜厚測定装置
要約:
(EN) A coating film state analysis device comprising an acquisition unit for acquiring surface data pertaining to a to-be-coated region, a sorting unit for sorting from the surface data acquired by the acquisition unit into post-coating-operation surface data and pre-coating-operation surface data, and an analysis unit for analyzing the state of a coating film formed in the to-be-coated region on the basis of the post-coating-operation surface data and the pre-coating-operation surface data sorted by the sorting unit.
(FR) Dispositif d'analyse d'état de film de revêtement comprenant une unité d'acquisition pour acquérir des données de surface concernant une région à revêtir, une unité de tri pour trier à partir des données de surface acquises par l'unité d'acquisition en des données de surface de post-revêtement et des données de surface de pré-revêtement, et une unité d'analyse pour analyser l'état d'un film de revêtement formé dans la région à revêtir sur la base des données de surface de post-revêtement et des données de surface de pré-revêtement triées par l'unité de tri.
(JA) 塗膜状態解析装置は、塗装対象領域の表面データを取得する取得部と、前記取得部により取得された前記表面データから塗装作業済みの表面データと塗装作業前の表面データとに分類する分類部と、前記分類部により分類された前記塗装作業済みの表面データと前記塗装作業前の表面データとに基づいて、前記塗装対象領域に形成された塗膜の状態を解析する解析部と、を備える。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)