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1. (WO2018185599) 有機半導体素子の分析方法
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国際公開番号: WO/2018/185599 国際出願番号: PCT/IB2018/052022
国際公開日: 11.10.2018 国際出願日: 26.03.2018
IPC:
G01N 27/62 (2006.01) ,C09K 11/06 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 23/2255 (2018.01) ,G01N 24/08 (2006.01) ,G01N 30/06 (2006.01) ,G01N 30/72 (2006.01) ,G01N 30/88 (2006.01) ,H01L 51/50 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
C 化学;冶金
09
染料;ペイント;つや出し剤;天然樹脂;接着剤;他に分類されない組成物;他に分類されない材料の応用
K
他に分類されない応用される物質;他に分類されない物質の応用
11
発光性物質,例.電気発光性物質;化学発光性物質
06
有機発光性物質を含有するもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
[IPC code unknown for G01N 23/2255]
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
24
核磁気共鳴,電子常磁性共鳴または他のスピン効果の使用による材料の調査または分析
08
核磁気共鳴を用いることによるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30
吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02
カラムクロマトグラフィ
04
分析試料の調製または導入
06
調製
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30
吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02
カラムクロマトグラフィ
62
カラムクロマトグラフィに特に用いられる検出器
72
質量分析計
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30
吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02
カラムクロマトグラフィ
88
グループ30/04から30/86のうちの1つに含まれないもので,カラムクロマトグラフィに特に用いられる統合的分析
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
51
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる固体装置;このような装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
50
光放出に特に適用されるもの,例.有機発光ダイオード(OLED)または高分子発光ダイオード(PLED)
出願人:
株式会社半導体エネルギー研究所 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県厚木市長谷398 398, Hase, Atsugi-shi, Kanagawa 2430036, JP
発明者:
川上祥子 KAWAKAMI, Sachiko; JP
小松のぞみ KOMATSU, Nozomi; JP
瀬尾哲史 SEO, Satoshi; JP
優先権情報:
2017-07469004.04.2017JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR ANALYZING ORGANIC SEMICONDUCTOR ELEMENTS
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ÉLÉMENTS À SEMI-CONDUCTEUR ORGANIQUE
(JA) 有機半導体素子の分析方法
要約:
(EN) Provided is a method for analyzing light-emitting elements. This method is for analyzing organic semiconductor elements which comprise, between a pair of electrodes, an organic semiconductor layer including one or a plurality of layers. Each organic semiconductor element is analyzed by using the following steps: a step (S2) in which one electrode of the organic semiconductor element is peeled away; a step (S3) in which the laminate and/or the mixture state of the exposed organic semiconductor layer is analyzed using a first mass spectrometry method; a step (S4) in which at least one or a plurality of the organic compounds in each layer of the organic semiconductor layer is eluted by using a solvent to prepare a solution; a step (S5) in which the organic compounds contained in the solution are isolated by using liquid chromatography; a step (S6) in which the mass to charge ratio of the isolated organic compounds is detected by using a second mass spectrometry method; a step (S8) in which the mass to charge ratio (D1) detected by the first mass spectrometry method and the mass to charge ratio (D2) detected by the second mass spectrometry method are contrasted with each other; and a step in which the physical properties of the isolated organic compounds are measured.
(FR) L'invention concerne un procédé d'analyse d'éléments électroluminescents. Ce procédé est destiné à analyser des éléments à semi-conducteur organique qui comprennent, entre une paire d'électrodes, une couche semi-conductrice organique comportant une ou plusieurs couches. Chaque élément à semi-conducteur organique est analysé à l'aide des étapes suivantes : une étape (S2) dans laquelle une électrode de l'élément à semi-conducteur organique est décollée; une étape (S3) dans laquelle le stratifié et/ou l'état de mélange de la couche semi-conductrice organique exposée sont analysés à l'aide d'un premier procédé de spectrométrie de masse; une étape (S4) dans laquelle au moins un des composés organiques dans chaque couche de la couche semi-conductrice organique est élué à l'aide d'un solvant pour la préparation d'une solution; une étape (S5) dans laquelle les composés organiques contenus dans la solution sont isolés à l'aide d'une chromatographie en phase liquide; une étape (S6) dans laquelle le rapport masse/charge des composés organiques isolés est détecté à l'aide d'un second procédé de spectrométrie de masse; une étape (S8) dans lequel le rapport masse/charge (D1) détecté par le premier procédé de spectrométrie de masse et le rapport masse/charge (D2) détecté par le second procédé de spectrométrie de masse sont comparés l'un avec l'autre; et une étape dans laquelle les propriétés physiques des composés organiques isolés sont mesurées.
(JA) 発光素子の分析方法を提供する。 一対の電極間に一つまたは複数の層を含む有機半導体層を有する有機半導体素子の分析方法である。 有機半導体素子の一方の電極を剥離する工程(S2)と、露出した有機半導体層の積層およびZまたは混合状態を第1の質量分析法により分析する工程(S3)と、有機半導体層の各層に含まれる有機化合物の少なくともいずれか一または複数を溶剤により溶出させ、溶液を作製する工程(S4)と、液体クロマトグラフィーを用いて、溶液に含まれる有機化合物を単離し(S5)、単離した有機化合物の質量電荷比を第2の質量分析法により検出する工程(S6)と、第1の質量分析法により検出した質量電荷比(D1)と、第2の質量分析により検出した質量電荷比(D2)とを対比する工程(S8)と、単離した有機化合物の物性を測定する工程を用いて、有機半導体素子を分析する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)