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1. (WO2018181799) 測定対象物質を測定するためのキット、方法及び試薬

Pub. No.:    WO/2018/181799    International Application No.:    PCT/JP2018/013409
Publication Date: Fri Oct 05 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Mar 30 01:59:59 CEST 2018
IPC: G01N 33/543
C07F 5/02
C09K 11/06
G01N 21/64
G01N 21/78
G01N 33/545
G01N 37/00
Applicants: FUJIFILM CORPORATION
富士フイルム株式会社
Inventors: CHIKU Hiroyuki
知久 浩之
YOSHIOKA Tomoaki
吉岡 知昭
WATANABE Kousuke
渡辺 康介
HAMADA Kazuhiro
▲浜▼田 和博
SASAKI Kouitsu
佐々木 晃逸
Title: 測定対象物質を測定するためのキット、方法及び試薬
Abstract:
本発明の課題は、非特異吸着による偽陽性の問題を防止し、発生するノイズの増加を抑え、低濃度から高濃度にわたる広範囲の濃度域において測定対象物質の高精度の測定を実現することができるキット、方法及び試薬を提供することである。本発明によれば、第一の結合物質で修飾された、標識を有する第一の粒子と、第二の結合物質で修飾された、標識を有しない第二の粒子と、上記第一の粒子及び上記第二の粒子を流すための流路と、上記測定対象物質と特異的な結合性を有する第三の結合物質、又は上記第一の結合物質に対して結合性を有する物質を有する基板と、を含む測定対象物質を測定するためのキットであって、上記の標識を有する第一の粒子は、下記式(1)で示される少なくとも一種の化合物と粒子とを含有する発光性の標識粒子であるキットが提供される。式(1)中の各記号は、本明細書に記載した意味を示す。