このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018181273) プローブ、プローブユニット、およびプローブユニットを備える半導体検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/181273 国際出願番号: PCT/JP2018/012350
国際公開日: 04.10.2018 国際出願日: 27.03.2018
IPC:
G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
073
複合探針
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
出願人:
日本発條株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県横浜市金沢区福浦3-10 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004, JP
発明者:
相馬 一也 SOMA Kazuya; JP
高橋 雅宏 TAKAHASHI Masahiro; JP
代理人:
特許業務法人高橋・林アンドパートナーズ TAKAHASHI, HAYASHI AND PARTNER PATENT ATTORNEYS, INC.; 東京都大田区蒲田5-24-2 損保ジャパン日本興亜蒲田ビル9階 Sonpo Japan Nipponkoa Kamata Building 9F, 5-24-2Kamata, Ota-ku, Tokyo 1440052, JP
優先権情報:
2017-06499329.03.2017JP
発明の名称: (EN) PROBE, PROBE UNIT, AND SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE PROVIDED WITH PROBE UNIT
(FR) SONDE, UNITÉ DE SONDE ET DISPOSITIF D'INSPECTION À SEMI-CONDUCTEURS COMPORTANT UNE UNITÉ DE SONDE
(JA) プローブ、プローブユニット、およびプローブユニットを備える半導体検査装置
要約:
(EN) The probe according to one embodiment of the present invention is provided with: a first plunger; a first end section having a first cutout for fitting in the first plunger; a first spiral section having a first spiral groove; and a first pipe having a first cylindrical section.
(FR) La présente invention concerne, selon un mode de réalisation, une sonde comprenant : un premier piston ; une première section d'extrémité ayant une première découpe destinée à s'ajuster dans le premier piston ; une première section en spirale ayant une première rainure en spirale ; et un premier tuyau ayant une première section cylindrique.
(JA) 本発明の一実施形態に係るプローブは、第1のプランジャ、第1のプランジャを嵌合する第1の切り欠きを有する第1の端部、第1の螺旋状の溝を有する第1の螺旋部、および第1の円筒部を有する第1のパイプを備える。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)