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1. (WO2018180047) 平面度測定方法及びピン高さ調整方法
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国際公開番号: WO/2018/180047 国際出願番号: PCT/JP2018/006307
国際公開日: 04.10.2018 国際出願日: 21.02.2018
IPC:
G01B 5/28 (2006.01) ,G01C 9/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
5
機械的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
28
表面の粗さまたは不規則性測定用
G 物理学
01
測定;試験
C
距離,水準または方位の測定;測量;航行;ジャイロ計器;写真計量または映像計量
9
傾斜の測定,例.クリノメーターによるもの,水準器によるもの
出願人:
株式会社アドテックエンジニアリング ADTEC ENGINEERING CO., LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番5号 1-6-5, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005, JP
発明者:
金内 伸朗 KANEUCHI Nobuaki; JP
代理人:
保立浩一 HOTATE Koichi; JP
優先権情報:
2017-06026826.03.2017JP
発明の名称: (EN) FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND PIN-HEIGHT ADJUSTMENT METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE PLATITUDE ET PROCÉDÉ DE RÉGLAGE DE HAUTEUR D’ÉPINGLES
(JA) 平面度測定方法及びピン高さ調整方法
要約:
(EN) [Problem] To provide a practical technique that makes it possible to readily measure the flatness of a face such as a virtual face formed by the top ends of a large number of pins. [Solution] A measurement unit 4 in which a level 6 is attached on a measurement plate 5 having flat top and bottom faces and having uniform thickness is mounted on top of three adjacent pins 3 among a large number of pins 3. In this state, the inclinations of the measurement plate 5 with respect to two orthogonal horizontal directions are measured by using the level 6. This step is executed sequentially for individual groups of three pins 3. In the second and subsequent iterations of this step, while again selecting one of the pins 3 that have already been selected, the inclinations of the measurement plate 5 are selected for all the pins 3. From the inclinations of the measurement plate 5, the height difference between a pin 3 having the top end thereof located at the highest position and a pin 3 having the top end thereof located at the lowest position is calculated as the flatness.
(FR) L’invention aborde le problème de mise en œuvre d’une technique pratique qui permet de mesurer rapidement la platitude d’une face de type face virtuelle formée par les extrémités supérieures d’un grand nombre d’épingles. La solution selon l’invention consiste en une unité de mesure (4) dans laquelle un niveau (6) est fixé sur une plaque de mesure (5) dont les faces supérieure et inférieure sont plates et dont l’épaisseur est uniforme qui est montée en haut de trois épingles (3) adjacentes parmi un grand nombre d’épingles (3). Dans cet état, les inclinaisons de la plaque de mesure (5) par rapport à deux directions orthogonales horizontales sont mesurées au moyen du niveau (6). Cette étape est exécutée séquentiellement pour des groupes individuels de trois épingles (3). Dans la deuxième itération et les suivantes de cette étape, tout en sélectionnant de nouveau une des épingles (3) qui ont déjà été sélectionnées, les inclinaisons de la plaque de mesure (5) sont sélectionnées pour toutes les épingles (3). À partir des inclinaisons de la plaque de mesure (5), la différence de hauteur entre une épingle (3) dont l’extrémité supérieure est située à la position la plus haute et une épingle (3) dont l’extrémité supérieure est située à la position la plus basse est calculée en tant que platitude.
(JA) 【課題】 多数のピンの上端が成す仮想面のような面の平面度を簡便に測定できる実用的な技術を提供する。 【解決手段】 平坦な上面及び下面を有し均一な厚さの測定板5の上に水準器6が取り付けられた測定ユニット4を、多数のピン3のうちの隣り合う三本のピン3の上に載せた状態で、直交する二つの水平方向における測定板5の傾きを水準器6により測定し、このステップを各三本のピン3に対して順次行う。二回目以降のステップでは、それまでに選択されたピン3のうちの一本を重ねて選択しつつ全てのピン3について測定板5の傾きを選択する。測定板5の傾きから、上端が最も高い位置にあるピン3と上端が最も低い位置にあるピン3との高さの差違が平面度として算出される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
KR1020180119589CN109073351