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1. (WO2018179744) X線分析補助装置及びX線分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/179744 国際出願番号: PCT/JP2018/002205
国際公開日: 04.10.2018 国際出願日: 25.01.2018
IPC:
G01N 23/201 (2018.01) ,G01N 23/205 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20
放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;放射線の反射の利用によるもの
201
微小角散乱の測定によるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20
放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;放射線の反射の利用によるもの
205
回折カメラによるもの
出願人:
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町三丁目9番12号 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
発明者:
谷口 やよい TANIGUCHI Yayoi; JP
森川 惠一 MORIKAWA Keiichi; JP
代理人:
山本 寿武 YAMAMOTO Toshitake; JP
優先権情報:
2017-06669430.03.2017JP
発明の名称: (EN) X-RAY ANALYSIS ASSISTANCE DEVICE AND X-RAY ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'AIDE À L'ANALYSE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ D'ANALYSE PAR RAYONS X
(JA) X線分析補助装置及びX線分析装置
要約:
(EN) An X-ray analysis assistance device according to the present invention is provided with an input and operation device 24 for arbitrarily inputting and setting the value of one from among the distance L between a sample S and a two-dimensional detector 2 and the maximum detection range Xmax for X-rays scattered or diffracted by the sample S, and a central processing unit 20 for automatically setting the other setting item on the basis of the value of the one setting item set by the input and operation device 24. Further, the maximum measurement frame Hmax for the X-rays is displayed on a display screen 22 of a display device 21 on the basis of the distance L and maximum detection range Xmax. Additionally, an X-ray detection area A indicating the range within which it is possible for the detection surface of the two-dimensional detector 2 to detect X-rays is displayed on the display screen 22 of the display device 21.
(FR) Un dispositif d'aide à l'analyse par rayons X selon la présente invention est pourvu d'un dispositif d'entrée et de fonctionnement 24 pour entrer et définir arbitrairement la valeur de l'un parmi la distance L entre un échantillon S et un détecteur bidimensionnel 2 et la plage de détection maximale Xmax pour les rayons X diffusés ou diffractés par l'échantillon S, et une unité de traitement centrale 20 pour définir automatiquement l'autre élément de définition sur la base de la valeur de l'élément de définition défini par le dispositif d'entrée et de fonctionnement 24. En outre, la trame de mesure maximale Hmax pour les rayons X est affichée sur un écran d'affichage 22 d'un dispositif d'affichage 21 sur la base de la distance L et de la plage de détection maximale Xmax. En outre, une zone de détection de rayons X A indiquant la plage dans laquelle il est possible pour la surface de détection du détecteur bidimensionnel 2 de détecter des rayons X est affichée sur l'écran d'affichage 22 du dispositif d'affichage 21.
(JA) 本発明のX線分析補助装置は、試料Sと2次元検出器2との間の距離L又は試料Sで散乱又は回折するX線の検出最大範囲Xmaxの一方を任意に入力して設定するための入力・操作装置24と、入力・操作装置24により設定された一方の設定項目の値に基づいて、他方の設定項目を自動的に設定する中央処理装置20とを備える。そして、上記距離Lと検出最大範囲Xmaxに基づいて、X線の最大測定枠Hmaxを表示装置21の表示画面22に表示する。さらに、2次元検出器2の検出面がX線を検出可能な範囲をあらわすX線検出領域Aも表示装置21の表示画面22に表示する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)