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1. (WO2018179559) 航空機用部品の欠陥検出システム及び航空機用部品の欠陥検出方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/179559 国際出願番号: PCT/JP2017/039558
国際公開日: 04.10.2018 国際出願日: 01.11.2017
IPC:
G06T 7/00 (2017.01) ,G01N 21/88 (2006.01)
G 物理学
06
計算;計数
T
イメージデータ処理または発生一般
7
イメージ分析,例.ビットマップから非ビットマップへ
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
出願人:
三菱重工業株式会社 MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内三丁目2番3号 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008332, JP
SOINN株式会社 SOINN INC. [JP/JP]; 東京都町田市鶴間八丁目4番30号 4-30, Tsuruma 8-chome, Machida-shi, Tokyo 1940004, JP
発明者:
小西 高三郎 KONISHI, Kozaburo; JP
岡本 素子 OKAMOTO, Motoko; JP
長谷川 修 HASEGAWA, Osamu; JP
代理人:
特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都千代田区霞が関3丁目8番1号 虎の門三井ビルディング Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013, JP
優先権情報:
2017-06159127.03.2017JP
発明の名称: (EN) DEFECT DETECTION SYSTEM FOR AIRCRAFT COMPONENT AND DEFECT DETECTION METHOD FOR AIRCRAFT COMPONENT
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉFAUT POUR COMPOSANT D'AÉRONEF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT POUR COMPOSANT D'AÉRONEF
(JA) 航空機用部品の欠陥検出システム及び航空機用部品の欠陥検出方法
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to appropriately detect a defect of an aircraft component. A defect detection system has: an original image acquisition unit (20) for acquiring an original image; an image processing unit (22) for extracting a defect candidate area from the original image on the basis of a luminance of an image in the original image, and calculating a characteristic amount of the defect candidate area on the basis of a difference in luminance between the defect candidate area and a peripheral area thereof; a characteristic amount range setting unit (24) for associating the characteristic amount calculated by the image processing unit (22) for a learning original image from which a defect part is detected in advance and information relating to the defect part, and setting a defect characteristic amount range and a non-defect characteristic amount range; and a defect detection unit (26) for determining, on the basis of the characteristic amount calculated by the image processing unit (22) with respect to a determination original image from which the defect part is not detected, the defect characteristic amount range, and the non-defect characteristic amount range, whether the defect candidate area in the determination original image is the defect part.
(FR) Le but de la présente invention est de détecter de manière appropriée un défaut d'un composant d'aéronef. Un système de détection de défaut comprend : une unité d'acquisition d'image d'origine (20) pour acquérir une image d'origine ; une unité de traitement d'image (22) pour extraire une zone candidate de défaut à partir de l'image d'origine sur la base d'une luminance d'une image dans l'image d'origine, et calculer une quantité caractéristique de la zone candidate de défaut sur la base d'une différence de luminance entre la zone candidate de défaut et une zone périphérique de celle-ci ; une unité de réglage de plage de quantité caractéristique (24) pour associer la quantité caractéristique calculée par l'unité de traitement d'image (22) pour une image d'origine d'apprentissage à partir de laquelle une partie de défaut est détectée à l'avance et des informations relatives à la partie de défaut, et définir une plage de quantités caractéristiques de défaut et une plage de quantités caractéristiques de non-défaut ; et une unité de détection de défaut (26) pour déterminer, sur la base de la quantité caractéristique calculée par l'unité de traitement d'image (22) par rapport à une image d'origine de détermination à partir de laquelle la partie de défaut n'est pas détectée, la plage de quantité caractéristique de défaut, et la plage de quantité caractéristique de non-défaut, si la zone candidate de défaut dans l'image d'origine de détermination est la partie de défaut.
(JA) 航空機用部品の欠陥を適切に検出する。欠陥検出システムは、原画像を取得する原画像取得部(20)と、原画像内の画像の輝度に基づき、欠陥候補領域を原画像内から抽出し、欠陥候補領域とその周囲の領域との輝度の差分に基づき、欠陥候補領域の特徴量を算出する画像処理部(22)と、欠陥の箇所が予め検出されている学習用原画像に対して画像処理部(22)が算出した特徴量と、欠陥の箇所の情報とを関連付けて、欠陥特徴量範囲と非欠陥特徴量範囲とを設定する特徴量範囲設定部(24)と、欠陥の箇所が未検出の判定用原画像に対して画像処理部(22)が算出した特徴量と、欠陥特徴量範囲と、非欠陥特徴量範囲とに基づき、判定用原画像内の欠陥候補領域が欠陥の箇所であるかを判定する欠陥検出部(26)と、を有する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)