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1. (WO2018179462) 顕微鏡用対物光学系及びそれを用いた顕微鏡
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国際公開番号: WO/2018/179462 国際出願番号: PCT/JP2017/022935
国際公開日: 04.10.2018 国際出願日: 21.06.2017
予備審査請求日: 05.12.2018
IPC:
G02B 21/02 (2006.01) ,G02B 15/10 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01) ,G03B 17/56 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
02
対物レンズ
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
15
変倍のための手段をもつ対物レンズ
02
対物レンズの一部を交換するもの,付加するもの,または除くもの,例.変換できる対物レンズ
10
一部を付加するもの,例.接写用アタッチメント
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
36
写真撮影用または投影用に構成されたもの
G 物理学
03
写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
B
写真を撮影するためのまたは写真を投影もしくは直視するための装置または配置;光波以外の波を用いる類似技術を用いる装置または配置;そのための付属品
17
カメラまたはカメラ本体の細部;その付属品
56
付属装置
出願人:
アクアシステム株式会社 AQUA SYSTEM CO., LTD. [JP/JP]; 群馬県前橋市富士見町田島191-1 191-1, Fujimimachitajima, Maebashi-shi, Gunma 3710114, JP
発明者:
狩野 清史 KANO, Kiyofumi; JP
槌田 博文 TSUCHIDA, Hirofumi; JP
梶谷 和男 KAJITANI, Kazuo; JP
代理人:
特許業務法人創成国際特許事務所 SATO & ASSOCIATES; 東京都新宿区西新宿6-24-1 西新宿三井ビルディング 18階 Nishi-Shinjuku Mitsui Building 18F, 24-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
優先権情報:
2017-06623929.03.2017JP
発明の名称: (EN) MICROSCOPE OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE INCLUDING SAME
(FR) SYSTÈME OPTIQUE D'OBJECTIF DE MICROSCOPE ET MICROSCOPE COMPRENANT CELUI-CI
(JA) 顕微鏡用対物光学系及びそれを用いた顕微鏡
要約:
(EN) Provided is a microscope objective optical system that makes it possible to sufficiently suppress aberrations in an observed image even in the case where a sample on the order of one micron is disposed in contact with or adjacent to the face of the optical system on the side nearest to the object. The microscope objective optical system includes an objective lens group G11, a first imaging lens group G12, and a second imaging lens group G13, in that order from the object side. Focusing is performed by moving the second imaging lens group G13, in part or in entirety, along the optical axis. A sample is disposed in contact with or adjacent to the face of the objective lens group G11 on the side nearest to the object. The microscope objective optical system satisfies the following conditional expression: -0.1 < φt < 0.1, where φt is the reciprocal of the position of a paraxial image after the first imaging lens group G12.
(FR) L'invention concerne un système optique d'objectif de microscope qui permet de supprimer suffisamment les aberrations dans une image observée, même dans le cas où un échantillon de l'ordre d'un micron est placé en contact avec la face du système optique, ou adjacent à cette face, sur le côté le plus proche de l'objet. Le système optique d'objectif de microscope comprend un groupe de lentilles d'objectif G11, un premier groupe de lentilles d'imagerie G12, et un second groupe de lentilles d'imagerie G13, dans cet ordre à partir du côté objet. La mise au point est effectuée par déplacement du second groupe de lentilles d'imagerie G13, en partie ou en totalité, le long de l'axe optique. Un échantillon est placé en contact avec la face du groupe de lentilles d'objectif G11, ou adjacent à cette face, sur le côté le plus proche de l'objet. Le système optique d'objectif de microscope satisfait l'expression conditionnelle suivante : -0,1 < φt < 0,1, dans laquelle φt est la réciproque de la position d'une image paraxiale après le premier groupe de lentilles d'imagerie G12.
(JA) 1ミクロンオーダーの試料を光学系の最も物体側の面に接触又は隣接するように配置した場合であっても、観察画像の収差を十分に抑えることができる顕微鏡用対物光学系を提供する。 顕微鏡用対物光学系は、物体側から順に、対物レンズ群G11と、第1結像レンズ群G12と、第2結像レンズ群G13とを備える。第2結像レンズ群G13の一部又は全部を光軸に沿って移動させることによって、フォーカシングが行われる。対物レンズ群G11の最も物体側の面には、試料が接触又は隣接して配置される。顕微鏡用対物光学系は、以下の条件式を満足する。 -0.1 < φt < 0.1 ただし、φtは第1結像レンズ群G12の後の近軸像位置の逆数である。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)