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1. WO2018163926 - タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム

公開番号 WO/2018/163926
公開日 13.09.2018
国際出願番号 PCT/JP2018/007423
国際出願日 28.02.2018
IPC
H01J 49/40 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
26質量分光器または質量分離管
34動的分光器
40飛行時間型分光器
G01N 27/62 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
H01J 49/004
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
H01J 49/062
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
06Electron- or ion-optical arrangements
062Ion guides
H01J 49/165
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
16using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
165Electrospray ionisation
H01J 49/40
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
40Time-of-flight spectrometers
H01J 49/4215
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
4205Device types
421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
4215Quadrupole mass filters
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 遠山 敦彦 TOYAMA, Atsuhiko
  • 山本 英樹 YAMAMOTO, Hideki
代理人
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
優先権情報
2017-04137206.03.2017JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TANDEM MASS SPECTROMETRY DEVICE AND PROGRAM FOR SAME DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE EN TANDEM ET PROGRAMME POUR CE DISPOSITIF
(JA) タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム
要約
(EN) In this invention, when data is obtained by mass spectrometry, a mass spectrum analysis unit (32) immediately determines the integration value of signal intensities on the mass spectrum for each m/z sub-range of a predetermined m/z-width into which the entire m/z range for the substance being measured is divided. Then, the mass spectrum analysis unit (32) selects only the m/z sub-ranges which have signal intensity integration values equal to or greater than a predetermined threshold value for MS/MS analysis. For each of the m/z sub-ranges selected, the MS/MS analysis is executed by an MS/MS analysis control unit (41), taking as a precursor ion an ion whereof the m/z is included within the m/z sub-range. After executing repeatedly a measurement cycle containing one iteration of mass spectrometry and one or a plurality of iterations of MS/MS analysis in this manner, an identification processing unit (35) sorts out the ions derived from an identical component on the basis of the peak retention times in an extracted-ion chromatogram of each product ion, and identifies the component. In this manner, while collecting information on a product ion derived from an ion observed in the mass spectrum as thoroughly as possible, the number of MS/MS analyses executed can be reduced, thereby shortening the time for one measurement cycle.
(FR) Dans la présente invention, lorsque des données sont obtenues par spectrométrie de masse, une unité d'analyse de spectre de masse (32) détermine immédiatement la valeur d'intégration d'intensités de signal sur le spectre de masse pour chacune des sous-plages de m/z d'une largeur de m/z prédéterminée en lesquelles est divisée la plage de m/z entière pour la substance mesurée. Ensuite, l'unité d'analyse de spectre de masse (32) sélectionne uniquement les sous-plages de m/z qui ont des valeurs d'intégration d'intensité de signal supérieures ou égales à une valeur seuil prédéterminée pour une analyse MS/MS. Pour chacune des sous-plages de m/z sélectionnées, l'analyse MS/MS est exécutée par une unité de commande d'analyse MS/MS (41), en considérant comme ion précurseur un ion dont la valeur de m/z est comprise dans la sous-plage de m/z. Après l'exécution répétée d'un cycle de mesure contenant une itération de spectrométrie de masse et une ou plusieurs itérations d'analyse MS/MS de cette manière, une unité de traitement d'identification (35) trie les ions issus d'un composant identique en fonction des temps de rétention de pic dans un chromatogramme d'ions extraits de chaque ion produit, et identifie le composant. De cette manière, tout en recueillant des informations sur un ion produit dérivé d'un ion observé dans le spectre de masse aussi soigneusement que possible, le nombre d'analyses MS/MS exécutées peut être réduit, ce qui réduit la durée d'un cycle de mesure.
(JA) 質量分析によりデータが得られるとマススペクトル解析部(32)は直ちに、測定対象のm/z範囲全体を所定のm/z幅ずつ区切ったm/z小範囲毎に、マススペクトル上の信号強度の積算値を求める。そして、その信号強度積算値が所定の閾値以上であるm/z小範囲のみをMS/MS分析の対象として選択する。MS/MS分析制御部(41)は選択されたm/z小範囲毎に、m/zがm/z小範囲に含まれるイオンをプリカーサイオンとしたMS/MS分析を実行する。こうして1回の質量分析と1又は複数回のMS/MS分析とを含む測定周期を繰り返し実行したあと、同定処理部(35)は各プロダクトイオンの抽出イオンクロマトグラムにおけるピークの保持時間に基づき同一成分由来のイオンを選別し成分を同定する。これにより、マススペクトルで観測されるイオン由来のプロダクトイオンの情報を極力漏れなく収集しつつ、MS/MS分析の実行回数を減らして1測定周期の時間を短縮することができる。
関連特許文献
国際事務局に記録されている最新の書誌情報