国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018163772) 視準校正装置および視準校正システム

Pub. No.:    WO/2018/163772    International Application No.:    PCT/JP2018/005720
Publication Date: Fri Sep 14 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Feb 20 00:59:59 CET 2018
IPC: F41G 3/32
F41G 3/26
Applicants: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC.
株式会社日立国際電気
Inventors: ENDO, Kuniko
遠藤 邦子
FUKUSHIMA, Kazushige
福嶋 一茂
SEKI, Taiki
関 太樹
MAKINO, Shinya
牧野 晋也
FUJIWARA, Takanori
藤原 孝則
OKAWA, Tatsuya
大川 竜也
SASAKI, Toshiaki
佐々木 利明
Title: 視準校正装置および視準校正システム
Abstract:
本発明の目的は、音声ナビゲートを用いて視準校正時間を短縮することである。 本発明の視準校正装置は、視準校正装置は視準校正板とレーザ送信装置に装 着される光学装置と入出力処理器を備え、視準校正板は火器照準用レチクルとレーザ送信 装置から照射される照射光を受ける受光器と、受光器が前記照射光を受光したときに発光 する発光器と光学装置から照射されるレーザ照射光を光学装置に反射するプリズムとを備 え、光学装置はプリズムにレーザを照射するレーザ発光部とプリズムからの反射光を受け るレーザ受光部とレーザ受光部からの反射光の受光時間と入射角度によって照準点とレチ クルを算出するデータ処理部とを備え、入出力処理器はレチクルを中心に照準点の位置を 任意に分割した表示部分の所望の部分に表示することを特徴とする。