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1. (WO2018163755) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
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国際公開番号: WO/2018/163755 国際出願番号: PCT/JP2018/005385
国際公開日: 13.09.2018 国際出願日: 16.02.2018
IPC:
G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,H01R 33/76 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
073
複合探針
H 電気
01
基本的電気素子
R
導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
33
装置を保持する役目と,その装置と構造的に組合わされている相手方部品を通じて電気的接続をする役目を果たしている,ホルダ部分を持つ,特にその装置を支持するために適合した嵌合装置,例.ランプ・ホルダ;その個々の部品(特殊な装置と相手方部品との構造的な関連は,その装置についての関連サブクラスを参照)
74
4個以上の極をもつ装置
76
ソケット,クリップまたは同様な接触子をもち,この接触子が相手方部品上の並行配置のピン,刃または同様な接触子との軸方向の摺動係合に適合するホルダ,例.電子管ソケット
出願人:
山一電機株式会社 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 東京都大田区南蒲田2-16-2 2-16-2, Minamikamata, Ota-ku Tokyo 1448581, JP
発明者:
鈴木 勝己 SUZUKI Katsumi; JP
齋藤 朋徳 SAITO Tomonori; JP
優先権情報:
2017-04665210.03.2017JP
発明の名称: (EN) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
(FR) MÉCANISME DE POSITIONNEMENT DESTINÉ À UNE BORNE D'INSPECTION KELVIN ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ ÉQUIPÉE DE CE DERNIER
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
要約:
(EN) This positioning mechanism for a Kelvin inspection terminal makes it possible to simply assemble a Kelvin inspection terminal together with an IC socket and enhance the accuracy of the positioning of the Kelvin inspection terminal in relation to semiconductor device electrode parts. A mounting base 20 for an object of inspection has a plurality of holes 20ai into which electrode parts DVa of a semiconductor device DV are inserted and by which the electrode parts DVa are positioned. The bottom parts of the holes 20ai have, formed in two locations, through holes 20d into which device plungers 12 for each probe 10 are inserted.
(FR) Selon la présente invention, ce mécanisme de positionnement destiné à une borne d'inspection Kelvin permet d'assembler simplement une borne d'inspection Kelvin avec un support de circuit intégré et d'améliorer la précision du positionnement de la borne d'inspection Kelvin par rapport aux parties d'électrode de dispositif semi-conducteur. Une base de montage (20) destinée à un objet d'inspection a une pluralité de trous (20a) dans lesquels des parties d'électrode (DVa) d'un dispositif semi-conducteur (DV) sont insérées et par lesquelles les parties d'électrode (DVa) sont positionnées. Les parties inférieures des trous (20ai) présentent, sur deux emplacements, des trous traversants (20d) dans lesquels des plongeurs de dispositif (12) destinés à chaque sonde (10) sont insérés.
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構において、ケルビン検査用端子をICソケットに簡単に組み付けることができ、しかも、ケルビン検査用端子の半導体装置の電極部に対する位置決め精度を向上させることができる。被検査物搭載台20は、半導体装置DVの各電極部DVaが挿入され位置決めされる複数の孔20aiを有し、孔20aiの底部には、各プローブ10のデバイス用プランジャー12が挿入される貫通孔20dが2箇所に形成されているもの。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)