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1. (WO2018163755) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット

Pub. No.:    WO/2018/163755    International Application No.:    PCT/JP2018/005385
Publication Date: Fri Sep 14 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Feb 17 00:59:59 CET 2018
IPC: G01R 31/26
G01R 1/067
G01R 1/073
H01R 33/76
Applicants: YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD.
山一電機株式会社
Inventors: SUZUKI Katsumi
鈴木 勝己
SAITO Tomonori
齋藤 朋徳
Title: ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
Abstract:
ケルビン検査用端子の位置決め機構において、ケルビン検査用端子をICソケットに簡単に組み付けることができ、しかも、ケルビン検査用端子の半導体装置の電極部に対する位置決め精度を向上させることができる。被検査物搭載台20は、半導体装置DVの各電極部DVaが挿入され位置決めされる複数の孔20aiを有し、孔20aiの底部には、各プローブ10のデバイス用プランジャー12が挿入される貫通孔20dが2箇所に形成されているもの。