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1. (WO2018163529) 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、およびプログラム

Pub. No.:    WO/2018/163529    International Application No.:    PCT/JP2017/042486
Publication Date: Fri Sep 14 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Nov 29 00:59:59 CET 2017
IPC: G01B 11/25
G06T 7/521
Applicants: OMRON CORPORATION
オムロン株式会社
Inventors: OHNISHI, Yasuhiro
大西 康裕
SHIMIZU, Takashi
清水 隆史
Title: 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、およびプログラム
Abstract:
制御装置は、計測対象物上の計測点に対する観測信号として、異なる空間周波数をもつ複数の投影パターンを用いて観測された複数の観測信号を取得する。制御装置は、観測信号に含まれる2つの成分信号を推定する処理を繰り返し実行することによって、観測信号を2つの成分信号に分離し、分離した成分信号の位相に基づいて計測点の3次元位置を算出する。