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1. (WO2018163278) 外観検査装置、外観検査方法
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国際公開番号: WO/2018/163278 国際出願番号: PCT/JP2017/008976
国際公開日: 13.09.2018 国際出願日: 07.03.2017
IPC:
G01B 11/24 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
出願人:
ヤマハ発動機株式会社 YAMAHA HATSUDOKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 静岡県磐田市新貝2500番地 2500, Shingai, Iwata-shi, Shizuoka 4388501, JP
発明者:
田端 伸章 TABATA, Nobuaki; JP
代理人:
振角 正一 FURIKADO, Shoichi; JP
梁瀬 右司 YANASE, Yuji; JP
大西 一正 OHNISHI, Kazumasa; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D’INSPECTION D’APPARENCE ET PROCÉDÉ D’INSPECTION D’APPARENCE
(JA) 外観検査装置、外観検査方法
要約:
(EN) Irradiation light Li is not directly applied to a solder S, but the irradiation light Li is applied to a surface Bs of a substrate B, thereby applying, to the solder S, the irradiation light Li reflected by the surface Bs. The irradiation light Li to the solder S, said irradiation light being applied in such a manner to the solder S via the reflection by the surface Bs, is different from the irradiation light Li directly applied to the solder S, and is inputted to a camera 5 after being reflected by a steep slope Ss. As a result, an image of the steep slope Ss of the solder S can be picked up.
(FR) Selon la présente invention, une lumière d’irradiation (Li) n’est pas directement appliquée à une soudure (S), mais la lumière d’irradiation (Li) est appliquée à une surface (Bs) d’un substrat (B), appliquant ainsi à la soudure (S), la lumière d’irradiation (Li) reflétée par la surface (Bs). La lumière d’irradiation (Li) appliquée à la soudure (S), ladite lumière d’irradiation étant ainsi appliquée à la soudure (S) par l’intermédiaire de la réflexion par la surface (Bs), est différente de la lumière d’irradiation (Li) directement appliquée à la soudure (S), et est entrée dans appareil photographique (5) après avoir été reflétée par une pente raide (Ss). En résultat, une image de la pente raide (Ss) de la soudure (S) peut être captée.
(JA) 照射光Liを半田Sに直接照射するのではなく、照射光Liを基板Bの表面Bsに射出することで、当該表面Bsで反射された照射光Liを半田Sに照射する。このように半田Sの表面Bsでの反射を介して半田Sに照射された照射光Liは、半田Sに直接照射された照射光Liと異なり、急斜面Ssで反射されてからカメラ5に入射する。その結果、半田Sが有する急斜面Ssを撮像することが可能となっている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)