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1. (WO2018154774) 寸法測定装置

Pub. No.:    WO/2018/154774    International Application No.:    PCT/JP2017/007461
Publication Date: Fri Aug 31 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Feb 28 00:59:59 CET 2017
IPC: B66B 7/02
B66B 7/00
G01C 3/06
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
三菱電機株式会社
Inventors: MARUYAMA, Naoyuki
丸山 直之
Title: 寸法測定装置
Abstract:
寸法測定装置8は、水平面内の距離を計測する距離計9,10と、距離計9,10で計測された距離に基づいて距離計の位置を同定して測定対象物3,6,7の位置及び姿勢を算出する演算部11とを備えている。演算部11は、基準線4と距離計との距離と、基準線5と距離計との距離と、基準線4,5間の間隔とに基づいて、距離計の位置を同定し、同定された距離計の位置と距離計で計測された測定対象物までの距離に基づいて、測定対象物の表面における予め測定対象として設定された少なくとも2つの特徴点の位置を算出するとともに、それらの特徴点間の傾きを算出する。